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數(shù)字電橋的電感器件的多種特性有哪些?原理有哪些?

教育裝備采購網(wǎng) 2017-10-11 09:26 圍觀480次

  數(shù)字電橋的電感器件的多種性有哪些?原理有哪些?

  數(shù)字電橋就是能夠測量電感,電容,電阻,阻抗的儀器,這是個傳統(tǒng)習慣的說法,早的阻抗測量用的是真正的電橋方法,隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字術的發(fā)展,早已經淘汰了這種測量方法,但LCR電橋的叫法直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。般用戶又稱這些為:LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。

  數(shù)字電橋原理

  歷史

  數(shù)字電橋(卷名:電)

  digital bridge

  采用數(shù)字術測量阻抗參數(shù)的電橋。數(shù)字術是將傳統(tǒng)的模擬量轉換為數(shù)字量,再行數(shù)字運算、傳遞和處理等。

  1972年,際上次出現(xiàn)帶微處理器的數(shù)字電容電橋,它將模擬電路、數(shù)字電路與計算機術結合在起,為阻抗測量儀器開辟了條新路。

  原理

  數(shù)字電橋的測量對象為阻抗元件的參數(shù),包括交流電阻R、電感L及其品質因數(shù)Q,電容C及其損耗因數(shù)D。因此,又常稱數(shù)字電橋為數(shù)字式LCR測量儀。其測量用頻率自頻到約100千赫。基本測量誤差為0.02%,般均在0.1%左右。

  平衡式電橋測試原理

  平衡式電橋測試原理

  Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur

  此式為相量關系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測出Ux和Ur對應于某參考相量的同相量分量和正交分量,然后經模數(shù)轉換(A/D)器將其轉化為數(shù)字量,再由計算機行復數(shù)運算,即可得到組成被測阻抗Zx的電阻值與電抗值。

  從圖中的線路及作原理可見,數(shù)字電橋只是繼承了電橋傳統(tǒng)的稱呼。實際上它已失去傳統(tǒng)經典交流電橋的組成形式,而是在更的水平上回到以歐姆定律為基礎的測量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。

  數(shù)字電橋可用于計量測試門對阻抗量具的檢定與傳遞,以及在般門中對阻抗元件的常規(guī)測量。很多數(shù)字電橋帶有標準接口,可根據(jù)被測值的準確度對被測元件行自動分檔;也可直接連接到自動測試系統(tǒng),用于元件生產線上對產品自動檢驗,以實現(xiàn)生產過程的質量控制。80年代中期,通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更準確度、更多能、速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。

  廣泛的測量對象

  半導體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)測量。

  其它元件:印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估。

  介質材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。

  磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。

  半導體材料:半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V性。

  液晶材料:液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V性。

  多種元件、材料性測量能力

  多參數(shù)混合顯示能

  多參數(shù)同時顯示可滿足復雜元件各種分布參數(shù)的面觀察與評估要求,而不反復切換測量參數(shù)。

  電感L和其直流電阻DCR可以同時測量顯示,顯著提電感測量效率。

  揭示電感器件的多種性

  使用內/外直流偏置,結合各種掃描測試能,可以地分析磁性材料、電感器件的性能。

  通過偏置電流疊加測試能,可以測量頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用外電流疊加裝置,可使偏置電流達40A以分析率、大電流電感器件。

  的陶瓷電容測量

  1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的征,同時其容量、損耗施加之交流信號會產生明顯的變化。

  儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準確度,六位分辨率和自動電平控制(ALC)能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準確的測試需要。

  液晶單元的電容性測量

  電容-電壓(C-Vac)性是評價液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac性遇到個問題是大測試電壓不夠。

  使用擴展測量選件可提供分辨率為1%及達20Vms的可編程測試信號電平,使它能在佳條件下行液晶材料的電容性測量。

  半導體材料和元件的測量

  行MOS型半導體制藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數(shù),這些可從C-Vdc性的測量結果推導出來。

  通過提供的直流源,結合各種掃描能,可以方便地成C-VDC性的測量。

  為了測試晶圓上的半導體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的1m/2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至小。

  各種二管、三管、MOS管的分布電容也是本儀器的測試內容。

  使用方法

  1. 加電

  將電源線帶IEC端接到電橋左后方的IEC插座上,另端插入合適的電源插座上,搬動電橋左后方的船形開關,即使電橋通電。通電后,顯示器、量程及能示器隨之變亮。電橋可自動置于電感、電容測量檔,并聯(lián)等效及1KHz頻率狀態(tài)。正常情況下,內電路加電幾秒鐘后即能穩(wěn)定,便可行測量。

  2.被測元件的接入方法

 ?、磐ǔ较蛞€的元件可直接插入組合測試夾夾板內,而接入殊柔性引線的元件時,應借助夾板離合器行,該離合裝置位于測試夾的正下方。

 ?、平尤胼S向引線元件時,為避免扭折引線,可采用軸向轉接頭,把這兩個配件分別插入測試夾的兩端,再將其間距調正到適合元件測量的位置,然后便將軸向引線元件插入兩端的配件夾內。

 ?、窃谳S向轉接頭需相當牢固定的場合,如在測量大量的元件時,需采用支撐板。

  安裝支撐板:把軸向轉接頭調整到適當?shù)奈恢蒙希缓髮⒅伟鍛抑糜谳S向轉接頭上方,讓每個軸向轉接頭穿過支撐板上的槽縫,放好支撐板,將固定螺釘對準電橋面板上的螺孔,后上緊螺釘。注意:安裝時不易將螺釘擰得過緊。

  注意:本電橋雖能夠對充電電容接入測試行防護,但好應將充電電容經適當電阻放電后才行測量。

  3.使用中注意讀數(shù)及測量條件顯示

 ?、艃x器的6位顯示不定是有效顯示,在某些測量中測量數(shù)據(jù)的未尾值可能跳動較大,應舍去這些跳動數(shù)值,讀取其穩(wěn)定值。

  (2)般使用自動量程行測量,以保證選擇到正確的量程,操作到手動方式可以觀察實際作量程。應用于同批同種測量元件的批量測試時,可以選擇量程鎖定模式作。

  (3)串--并聯(lián)示

  雖然電橋具有顯示串聯(lián)或并聯(lián)等效值的選擇性,但在不利的Q值情況下,用上述兩種方式均不可能獲得基本準確度。當需要改動某顯示方式以便提基本準確度時,電橋通過下標s表示串聯(lián),下標p表示并聯(lián)。

  (4)頻率提示

  200μF~2000μF的電容,200H~2000H的電感,測量頻率在100Hz只能獲得基本準確度。同樣,200pF~2nF的電容和200μH~2mH的電感,只有在1KHz測量頻率上才能獲得基本準確度,因此獲得佳測試性能,應選擇合適的測試頻率。

  (5)測試電平顯示

  K陶瓷電容或導磁磁性電感器等,對測試信號電平的大小較為敏感,不同的測試電平會產生相異的測量結果。同時,測試電平越低,測量穩(wěn)定性越差。

  4. 建議采用的測量條件參考表

  表 測量條件參考

  元件名稱 測量頻率 串--并聯(lián)

  電容<1μF 1KHz 并聯(lián)

  電容≥1μF(非電解電容) 100Hz 并聯(lián)

  電容≥1μF(電解電容) 100Hz 串聯(lián)(SER)

  電感<1H 1KHz 串聯(lián)(SER)

  電感≥1H 100Hz 串聯(lián)(SHR)

  電阻<10KΩ 100Hz 串聯(lián)(SHR)

  電阻≥10KΩ 100Hz 并聯(lián)

  當電橋在100Hz和1KHz頻率上,能同時提供串聯(lián)和并聯(lián)等效元件值時建議:定型號和數(shù)值的元件應采用定的方式行測量。這樣做是為了獲得既適合于元件的結構形式,又適合于元件常用的作方式的測量。如大容量的電解電容器,常作為電源波濾元件,測量時會發(fā)現(xiàn),1KHZ頻率上的電容值明顯低于100Hz頻率上的電容值。這種現(xiàn)象是由于這類元件的幾何結構有關諸因素所構成。因此,電解電容在100Hz頻率上測量的電容值是有用的,電解電容的損耗項通常在串聯(lián)等效電阻(ESR)上顯示,因此,應該測量其串聯(lián)電容和串聯(lián)電阻值。

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