2017年10月18日， 2017年全國(guó)電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)在成都星宸皇家金煦酒店隆重召開。學(xué)術(shù)年會(huì)為期三天，吸引了近900人來自大專院校、科研院所、企業(yè)等單位的代表出席。學(xué)術(shù)年會(huì)旨在幫助大家了解電子顯微學(xué)及相關(guān)儀器技術(shù)的前沿發(fā)展，促進(jìn)基礎(chǔ)研究與應(yīng)用研究最新進(jìn)展的交流。

　　本次學(xué)術(shù)年會(huì)主要由大會(huì)報(bào)告和八個(gè)分會(huì)場(chǎng)報(bào)告組成，為了不影響大會(huì)效果，大會(huì)報(bào)告與分會(huì)場(chǎng)報(bào)告從時(shí)間順序上穿插進(jìn)行。18日上午，首先進(jìn)行大會(huì)報(bào)告的上半部分，十位國(guó)內(nèi)外著名學(xué)者、相關(guān)儀器設(shè)備廠商專家依次做了精彩報(bào)告。

　　報(bào)告題目：外場(chǎng)環(huán)境下材料表面結(jié)構(gòu)的原位顯微學(xué)研究

　　致開幕辭并對(duì)與會(huì)者表示歡迎后，張澤為大家分享了第一個(gè)報(bào)告。受溫度、氣壓、氣氛等使用環(huán)境的作用，固體表面將會(huì)發(fā)生氣體吸附、原子遷移、應(yīng)力變化等結(jié)構(gòu)變化，從而給其物理/化學(xué)的精準(zhǔn)解釋帶來困難與挑戰(zhàn)。針對(duì)此類科學(xué)問題，張澤團(tuán)隊(duì)創(chuàng)新性將氣氛等外場(chǎng)環(huán)境引入高真空工作的電子顯微鏡中，在納米甚至原子分辨率下，研究苛刻環(huán)境下固體表面精細(xì)結(jié)構(gòu)的演變及其對(duì)物理化學(xué)性能的影響，為高性能材料的設(shè)計(jì)與制備提供可靠的科學(xué)依據(jù)。

　　報(bào)告中分三部分講述了環(huán)境對(duì)表面結(jié)構(gòu)的影響，第一部分只考慮溫度影響，研究溫度的升高促使材料表面重構(gòu)及相變;第二部分同時(shí)考慮溫度與氣體對(duì)材料表面的影響，介紹不同氣氛環(huán)境下材料表面結(jié)構(gòu)的演變過程;第三部分同時(shí)考慮溫度與氣壓對(duì)材料的影響，講述氣壓對(duì)納米顆粒形貌的顯著影響。

　　報(bào)告人：Professor Yuichi Ikuhara (University of Tokyo，Japan)

　　報(bào)告題目：Mechanical and chemical dynamics of interface phenomena in oxides

　　目前，有關(guān)金屬位錯(cuò)現(xiàn)象的研究很多，但多是關(guān)于靜態(tài)條件下的，動(dòng)力學(xué)相關(guān)研究亟待開展。在報(bào)告中，Yuichi Ikuhara介紹了其團(tuán)隊(duì)關(guān)于SrTiO3的單晶和雙晶在TEM中的原位納米壓痕實(shí)驗(yàn)。雙晶實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，位錯(cuò)是否穿過GB主要與晶界本身特性有關(guān)。鋰在負(fù)極材料中的擴(kuò)散行為對(duì)其大倍率充放電性能有著很大影響，在對(duì)于鋰離子擴(kuò)散機(jī)理的研究中發(fā)現(xiàn)，中間相對(duì)于愈合晶體開裂發(fā)揮著重要作用。

　　報(bào)告人：Dr. Marc Peeters (Thermo Fisher Scientific /FEI)

　　報(bào)告題目：Thermo fisher scientific’s vision on multi-scale and multi-modal analysis

　　FEI 隸屬于Thermo Fisher Scientific ，Marc Peeters首先向大家介紹了Thermo Fisher Scientific目前的整體情況。公司年銷售額180億美元，每年用于產(chǎn)品研發(fā)超過8億美元，擁有約55,000多名員工。旗下主要含5個(gè)首要品牌Thermo Scientific、Applied Biosystems、Invitrogen、Fisher Scientific和Unity Lab Services。主要的四大業(yè)務(wù)生命科學(xué)、工業(yè)和應(yīng)用科學(xué)、臨床和診斷、實(shí)驗(yàn)室解決方案的業(yè)務(wù)銷售額百分比依次為：28%、20%、17%、35%。接著分別介紹了公司所提供的解決方案、在中國(guó)推出的重磅新品等。電子顯微學(xué)相關(guān)設(shè)備包括Quattro ESEM、Talos F200i等。

　　報(bào)告人：章新政 研究員 (中國(guó)科學(xué)院生物物理研究所)

　　報(bào)告題目：?jiǎn)晤w粒算法的理論分辨率極限的突破

　　隨著近幾年軟、硬件的發(fā)展，冷凍電鏡單顆粒三維重構(gòu)法的應(yīng)用范圍以及分辨率得到了極大的擴(kuò)展和提升，成為了解析和生命活動(dòng)密切相關(guān)的重要蛋白質(zhì)及其高分辨三維結(jié)構(gòu)的重要工具之一。然而，單顆粒法三維重構(gòu)理論建立在中央截面定量上，遵循弱相位近似及高壓近似，這些近似對(duì)于生物樣品在高頻信號(hào)區(qū)難以得到滿足。報(bào)告中，章新政利用理論模擬結(jié)合單顆粒重構(gòu)算法對(duì)單顆粒法的理論分辨極限進(jìn)行了探索，確定了不同大小樣品在不同加速電壓電鏡中的三維重構(gòu)分辨率極限。同時(shí)，用自己提出的block-based三維重構(gòu)算法來彌補(bǔ)相位柵近似的破壞，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)證明成功解決了Ewald球效應(yīng)，突破了相位柵近似引起的冷凍電鏡單顆粒法的理論分辨率極限。

　　報(bào)告人：Dr.Masaki Mukai (日本電子(捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司))

　　報(bào)告題目：日本電子電鏡最新技術(shù)進(jìn)展

　　日本電子株式會(huì)社(JEOL)是世界頂級(jí)科學(xué)儀器制造商，主要產(chǎn)品有透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡、電子探針、核磁共振譜儀、質(zhì)譜、電子自旋共振譜儀、能譜、X熒光光譜儀等大型尖端設(shè)備。2010年，日本電子株式會(huì)社在中國(guó)成立了獨(dú)立法人的全資子公司--捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司。Masaki Mukai在報(bào)告中從其不同電鏡產(chǎn)品角度分別介紹了日本電子電鏡最新技術(shù)的進(jìn)展，其中重點(diǎn)介紹了最新推出新產(chǎn)品JEM-ARM200F，該產(chǎn)品具有特點(diǎn)包括：冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、歐米伽能量過濾器、最高加速電壓300kV、自動(dòng)進(jìn)樣裝置等。

　　報(bào)告人：Professor Rafal E. Dunin-Borkowski (Ernst Ruska-Centre

　　for Microscopy and Spectroscopy with Electrons，F(xiàn)orschungszentrum Jülich)

　　報(bào)告題目：Direct measurement of magnetization distributions in nanoscale materials in the transmission electron microscope

　　透射電鏡技術(shù)近來已取得革命性發(fā)展，不僅體現(xiàn)在引入了像差校正等硬件，也包括一系列新技術(shù)的發(fā)展。報(bào)告中，Rafal E. Dunin-Borkowski主要介紹了在納米空間分辨率條件下，通過透射電鏡在獲得表面形貌、化學(xué)結(jié)構(gòu)的同時(shí)，如何進(jìn)一步得到磁化信息。

　　報(bào)告人：林金星 教授(中國(guó)林業(yè)大學(xué))

　　報(bào)告題目：：植物細(xì)胞壁成份的無標(biāo)記原位分析

　　林金星首先介紹了細(xì)胞壁的定義、廣泛作用，及其結(jié)構(gòu)。接著，講解了細(xì)胞壁的主要檢測(cè)方法。過去主要依賴于大樣本化學(xué)分析，即將大量植物細(xì)胞進(jìn)行粉碎、分離和檢測(cè)。這種技術(shù)固然可以反映大樣本的成分變化趨勢(shì)，但無法精確分析單個(gè)細(xì)胞，或者某些細(xì)胞的成分變化。接著簡(jiǎn)要介紹了細(xì)胞壁成分無標(biāo)記原位檢測(cè)技術(shù)，包括分光光度計(jì)技術(shù)、傅里葉紅外光譜技術(shù)、拉曼光譜技術(shù)、受激拉曼散射技術(shù)等。同時(shí)，結(jié)合植物發(fā)育過程，介紹了這些技術(shù)的優(yōu)缺點(diǎn)。

　　報(bào)告人：Dr. Osamu Takagi (天美(中國(guó))科學(xué)儀器有限公司+日立高新技術(shù)公司)

　　報(bào)告題目：New technologies of Hitachi FIB-SEM

　　Dr. Osamu Takagi主要講解了三方面內(nèi)容：利用高強(qiáng)度CFE源作為高分辨成像和端點(diǎn)檢測(cè);雙/三梁結(jié)構(gòu)系統(tǒng)配置ACE技術(shù)對(duì)于先進(jìn)材料的加工是可行的;日立高新自1986年開始生產(chǎn)商業(yè)化FIB，最新推出的FIB-SEM系列產(chǎn)品十分適合當(dāng)前最新領(lǐng)域的研究(型號(hào)包括：NX2000、ETHOS、NX9000)。

　　報(bào)告人：曹瀟瀟 博士(美國(guó) Gatan 公司-中國(guó)科揚(yáng)貿(mào)易公司)

　　報(bào)告題目：Gatan 最新 Rio 系列 CMOS 相機(jī)

　　據(jù)曹瀟瀟介紹，Gatan最新推出的CMOS成像系統(tǒng)，針對(duì)30-200kV電壓設(shè)計(jì)，在成像應(yīng)用和原位應(yīng)用領(lǐng)域帶來像質(zhì)提升和流暢的實(shí)驗(yàn)體驗(yàn)。其應(yīng)用包括高分辨成像應(yīng)用、衍射成像應(yīng)用、生命科學(xué)應(yīng)用、原位電鏡應(yīng)用等。最后分享了如何為透射電鏡選擇正確的相機(jī)，其建議包括電鏡功能及數(shù)據(jù)質(zhì)量很大程度上由相機(jī)質(zhì)量決定、高像素相機(jī)的成像質(zhì)量不一定由于低像素相機(jī)、軟件對(duì)于相機(jī)性能至關(guān)重要等。

　　報(bào)告人：鄒曉冬 教授 (Department of Materials and Environmental Chemistry，Stockholm University)

　　報(bào)告題目：Automated electron diffraction techniques for phase analysis and structure determination

　　電子晶體學(xué)是一種進(jìn)行相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定的重要技術(shù)，鄒曉冬團(tuán)隊(duì)在開發(fā)新的電子晶體學(xué)方法方面進(jìn)行了多年的研究。在報(bào)告中，首先介紹了幾種解析多孔材料三維結(jié)構(gòu)的方法：①旋轉(zhuǎn)電子衍射(Rotation electron diffraction, RED)，②結(jié)合一系列不同取向的高分辨透射電子顯微學(xué)(HRTEM)圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，③電子斷層成像(Electron Tomography)等。接著，分享了該團(tuán)隊(duì)近來的一些研究進(jìn)展，包括為了克服當(dāng)前電子晶體學(xué)在相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定中的不足，開發(fā)的一些新的電子晶體學(xué)新方法：即從RED到cRED，再到SX-ED等。