MOS管測試儀概述 　

率場效應(yīng)管測試儀，是種新穎的數(shù)字顯示式率場效應(yīng)管參數(shù)測試裝置，可用于標(biāo)稱 電流約在2-85A，率在300W以內(nèi)的N溝導(dǎo)率場效應(yīng)管主要參數(shù)的測試。它可以準(zhǔn)確測量擊穿電壓 VDSS、柵開啟電壓VGS（th）和放大性參數(shù)跨導(dǎo)Gfs，尤其是跨導(dǎo)Gfs的測試電流可以達到50A，由于采 用脈沖電流測試法，即使在大電流測試時也不會對被測器件成何損壞，更可以在大電流狀態(tài)下對場效 應(yīng)管行參數(shù)致性的測試（配對）；儀器可用于同等電流等的IGBT參數(shù)的測量；儀器還是臺性 能十分的電子元器件耐壓測試裝置，其測試耐壓時的漏電流有1mA、250uA、25uA 三擋可以選擇。儀器 主要用于率場效應(yīng)管和IGBT的質(zhì)量檢驗、參數(shù)的配對及其它電子元器件的耐壓測試之用。儀器分N溝導(dǎo)型 測試儀和P溝導(dǎo)型測試儀兩種。儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測量準(zhǔn)確、操作簡單、使用安方便。

主要測試能 　

1、率場效應(yīng)管的擊穿電壓VDSS、柵開啟電壓VGS(th)、跨導(dǎo)Gfs的測試。 　

2、IGBT的擊穿電壓V(BR)ces、柵開啟電壓VGE(th)、跨導(dǎo)Gfs的測試。

3、率場效應(yīng)管和IGBT在50A以下的意電流狀態(tài)下致性的測試，可用于配對。

4、對其它更大電流和率的場效應(yīng)管及IGBT的測試：（見下面介紹）。

5、各類晶體三管、二管、穩(wěn)壓管擊穿電壓的測試。

6、壓敏電阻電壓的測試等。

測試盒與測試線

1、利用測試盒可以方便的測試TO-126、TO-220、TOP-3等類似封裝的率場效應(yīng)管和IGBT。

2、利用測試線可以測量其它金屬類、模塊類等封裝形式的率場效應(yīng)管和IGBT。