[報(bào)告簡(jiǎn)介]
如何在不破壞樣品的前提下，對(duì)大尺寸石墨烯等二維材料的電學(xué)性質(zhì)進(jìn)行準(zhǔn)確快速的測(cè)量，是在提升樣品質(zhì)量并推進(jìn)其實(shí)際應(yīng)用中，亟待解決的重要問(wèn)題。常規(guī)的四探針電阻測(cè)量法、原子力顯微鏡、共聚焦拉曼等表征方法存在測(cè)量尺寸小、效率低、對(duì)樣品有損傷等缺點(diǎn)而無(wú)法勝任。
在本報(bào)告中，我們將結(jié)合來(lái)自《nature》等期刊的新文獻(xiàn)，介紹一種顛覆性技術(shù)，它采用非接觸式方式，快速準(zhǔn)確且高效的實(shí)現(xiàn)大尺寸石墨烯等二維材料的無(wú)損測(cè)量，得到電導(dǎo)率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導(dǎo)體薄膜、光伏薄膜的電學(xué)性質(zhì)測(cè)量。該方法已經(jīng)成功應(yīng)用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業(yè)。
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[主講人介紹]
弓志宏 博士
弓志宏，物理學(xué)碩士，2016年畢業(yè)于北京理工大學(xué)。主要研究方向?yàn)榧す夤庾V學(xué)與技術(shù)、光與低維半導(dǎo)體納米結(jié)構(gòu)相互作用以及時(shí)間分辨發(fā)光動(dòng)力學(xué)等?，F(xiàn)擔(dān)任Quantum Design中國(guó)子公司產(chǎn)品經(jīng)理，多年來(lái)一直負(fù)責(zé)低維材料光學(xué)，電學(xué)物性測(cè)量設(shè)備的應(yīng)用開(kāi)發(fā)，技術(shù)支持和市場(chǎng)拓展。
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