摘要：一種觀察回波幅度曲線的閘門內(nèi)展寬方法，其特征是：在展寬時，先從源樣本序列S1(n)中截取對應當前顯示范圍的樣本序列S2(n)或者根據(jù)當前測量范圍提高物理AD采樣率獲得新的源樣本序列S2(n)，然后再對S2(n)進行二次采樣和特征捕獲得到新的顯示序列D2(m)，這樣就可以盡可能的利用了源采樣序列從而提供豐富的細節(jié)波形。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;清華大學;
- 發(fā)明人香勇;徐西剛;彭雪蓮;施克仁;
- 地址100085北京市海淀區(qū)上地西路28號1幢二層
- 申請?zhí)?/b>CN200610168723.8
- 申請時間2003年09月30日
- 申請公布號CN101004406A
- 申請公布時間2007年07月25日
- 分類號G01N29/44(2006.01);G01N29/04(2006.01);
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