摘要：本發(fā)明包括用細(xì)胞-基底阻抗測量分析細(xì)胞的器件、系統(tǒng)和方法。一方面，本發(fā)明提供細(xì)胞-基底阻抗測量器件，由絕緣基底上電極陣列組成。在整個陣列中，每個電極陣列有近似均勻的電阻。另一方面，本發(fā)明提供細(xì)胞-基底阻抗測量系統(tǒng)，包含一個或多個細(xì)胞-基底阻抗測量器件(器件包含多個孔，每個孔都有一個電極陣列)、一個阻抗分析儀、一個器件工作臺(連接每個孔的電極陣列到阻抗分析儀)和控制工作臺和阻抗分析儀的軟件。另一方面，本方面可以用阻抗測量作細(xì)胞分析，來檢測細(xì)胞行為或細(xì)胞狀態(tài)的變化。本方法可以用于測試化合物對細(xì)胞的作用，例如細(xì)胞毒性分析。本發(fā)明還提供分析化合物的細(xì)胞毒性的方法。
- 專利類型PCT發(fā)明
- 申請人美國艾森生物科學(xué)公司;艾森生物(杭州)有限公司;杭州艾森醫(yī)藥研究有限公司;
- 發(fā)明人徐曉;亞馬·阿巴斯;王小波;
- 地址美國加利福尼亞州
- 申請?zhí)?/b>CN200580012255.9
- 申請時間2005年02月09日
- 申請公布號CN101400780B
- 申請公布時間2012年06月20日
- 分類號G01N27/28(2006.01)I;G01N27/02(2006.01)I;G01N27/416(2006.01)I;C12Q1/02(2006.01)I;
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