摘要：本發(fā)明涉及基于偏振分析的光譜特性測量方法及其裝置，屬于光譜分析技術(shù)領(lǐng)域，該方法包括：使被測光進入DGD裝置，產(chǎn)生在相互垂直的偏振模式有不同差分群時延的輸出光；測量輸出光與DGD值相對應(yīng)的光偏振態(tài)和偏振度；對測得的輸出光偏振態(tài)和偏振度處理，生成被測光的光譜。該裝置包括：一個DGD裝置，通過改變DGD值，接收被測光并產(chǎn)生不同的群時延；一個光探測器，接收經(jīng)過DGD裝置的光信號，同時去測量輸出光的偏振態(tài)和偏振度；一個數(shù)據(jù)處理裝置，通過處理來自探測器的光偏振態(tài)和偏振度信息，獲得被測光的光譜。本發(fā)明可以實現(xiàn)很快的測量速率，用來測量與時間函數(shù)有關(guān)的快速掃描激光?？梢酝ㄟ^控制差分群時延值，獲得最小頻率間隔，提高光譜分辨率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京高光科技有限公司;通用光訊光電技術(shù)(北京)有限公司;
- 發(fā)明人姚曉天;
- 地址100089北京市海淀區(qū)長春橋路11號億城大廈C1座303
- 申請?zhí)?/b>CN200910001104.3
- 申請時間2009年01月22日
- 申請公布號CN101487738A
- 申請公布時間2009年07月22日
- 分類號G01J3/447(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I;
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