摘要：本發(fā)明涉及一種用于檢測大分子受激輻射強度的方法及檢測儀，采用反射式光路，光路中部件都放置在一個密閉的、不漏光的外殼中；采用差分式檢測和計算，消去殘余480nm激光及背景雜光對測試結(jié)果的影響。在測試具體的樣品之前先用空的樣品盒連同整個測試環(huán)境進行一次測試，并記下此時光電倍增管輸出的電信號強度，記下這個強度N1作為基準；放入具體待測樣品以后測得混合信號強度C，從C的數(shù)值中減去N1這個基準，就得到了反映著具體待測樣品受激發(fā)射強度的電信號S。本發(fā)明的效果：整個光路模塊的尺寸可以做到適合便攜的程度，而整臺儀器的尺寸主要取決于光路模塊。另一方面，采用差分式的檢測方法顯著提高了檢測的靈敏度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京網(wǎng)新易尚科技有限公司;
- 發(fā)明人舒咬根;毛德操;樂加昌;
- 地址310007浙江省杭州市天目山路256號12樓浙大網(wǎng)新科技有限公司
- 申請?zhí)?/b>CN200910099529.2
- 申請時間2009年06月18日
- 申請公布號CN101576496A
- 申請公布時間2009年11月11日
- 分類號G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G02B3/10(2006.01)I;
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