摘要：本發(fā)明公開了一種硬盤性能的測試方法和裝置，其中，該方法包括：獲取需要測試的至少一個(gè)硬盤的參數(shù)信息；在預(yù)先配置的測試環(huán)境下對(duì)硬盤進(jìn)行測試，讀取測試得到的測試結(jié)果、參數(shù)信息以及硬盤所在計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)參數(shù)信息；根據(jù)讀取的參數(shù)信息、測試結(jié)果以及計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)參數(shù)信息判斷硬盤的性能是否正常。本發(fā)明通過獲取硬盤的參數(shù)信息和系統(tǒng)信息，并根據(jù)該參數(shù)信息和系統(tǒng)信息判斷實(shí)際測得的硬盤性能是否正常，能夠?qū)崿F(xiàn)硬盤的自動(dòng)化測試，提高測試的效率，同時(shí)保證測試的準(zhǔn)確性。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人曙光信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司;
- 發(fā)明人趙雷;劉建鋒;劉流;
- 地址300384 天津市西青區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)區(qū)（環(huán)外）海泰華科大街15號(hào)1-3層
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201110456279.0
- 申請(qǐng)時(shí)間2011年12月31日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN102568522A
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年07月11日
- 分類號(hào)G11B20/18(2006.01)I;
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