摘要：本發(fā)明公開了基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀及其方法，其設計了一種新型的分光測色儀，所述分光測色儀包括：光阱、光源、積分球、第一撥片、第一撥片控制裝置、光譜儀、第二撥片、第二撥片控制裝置和用于進行數(shù)據(jù)處理的處理裝置；通過第一撥片控制裝置控制第一撥片關(guān)閉或打開積分球上部開孔，實現(xiàn)了SCI和SCE兩種測量條件，并通過第二撥片控制裝置控制第二撥片打開或關(guān)閉積分球下部開孔，從而用標準白板的測試數(shù)據(jù)對不同被測樣品的測量數(shù)據(jù)進行校正，消除了由于光源強度波動對測量帶來的影響，增強了測量重復性;通過對樣品表面SCI和SCE數(shù)據(jù)進行同時測量獲得樣品表面的光澤數(shù)據(jù)，根據(jù)預先建立的樣品表面光澤數(shù)據(jù)對SCI測量數(shù)據(jù)進行修正的矯正模型，對SCI測量數(shù)據(jù)進行修正，有效減小了誤差。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人杭州彩譜科技有限公司;中國計量學院;
- 發(fā)明人袁琨;陳剛;王堅;
- 地址310018 浙江省杭州市下沙高教園學源街258號科技樓709
- 申請?zhí)?/b>CN201310511357.1
- 申請時間2013年10月24日
- 申請公布號CN103542938A
- 申請公布時間2014年01月29日
- 分類號G01J3/46(2006.01)I;
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