摘要：一種電路板自動(dòng)測試裝置及電路板自動(dòng)測試方法。該電路板自動(dòng)測試裝置包括：承載平臺以及裝置本體；承載平臺包括至少一感測件且結(jié)合裝置本體，承載平臺可相對于裝置本體移動(dòng)至測試位置或待機(jī)位置；裝置本體包括：主控模塊、輸入/輸出連接模塊以及探針測試模塊；輸入/輸出連接模塊用以固定至少一輸入/輸出連接接口并可相對于測試位置的承載平臺移動(dòng)；探針測試模塊包括至少一探針并可相對于測試位置的承載平臺移動(dòng)；其中檢測電路板已正確放置后，主控模塊控制承載平臺自待機(jī)位置移動(dòng)至測試位置；并在控制輸入/輸出連接模塊與探針測試模塊電性連接電路板后，供電至電路板以執(zhí)行測試作業(yè)。本發(fā)明能大幅節(jié)省測試成本，提高測試的穩(wěn)定性及精確度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人緯創(chuàng)資通股份有限公司;緯創(chuàng)資通（昆山）有限公司;
- 發(fā)明人王震;劉健;翟慧慧;張永全;廖兵;王彬;
- 地址中國臺灣新北市汐止區(qū)新臺五路一段88號21樓
- 申請?zhí)?/b>CN201210435406.3
- 申請時(shí)間2012年11月02日
- 申請公布號CN103792481B
- 申請公布時(shí)間2016年08月03日
- 分類號G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I;
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