摘要：本發(fā)明提供一種光合有效光量子傳感器自動檢測、校對系統(tǒng)及方法，系統(tǒng)包括：均勻光源系統(tǒng)(光學積分球、標準光源、可調(diào)光源、與可調(diào)光源連接的電子衰減器、光探測器、電源柜(與標準及可調(diào)光源連接的電源、與電子衰減器連接的衰減器控制器和與光探測器連接的讀數(shù)表；電源、衰減器控制器和讀數(shù)表均與上位機連接))、移動光學平臺(光學導軌、與光學導軌及上位機分別連接步進電機、可移動底座、經(jīng)卡座與支撐桿在其上的校對底盤；與出光口中心同軸的校對底盤中心裝有通過光譜輻射計與上位機連接的標準探頭，與上位機連接的被校傳感器均勻在校對底盤中心預設半徑區(qū)域)、光譜輻射計和上位機，可對被校傳感器全量程自動校對，提高校對精度與效率。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京農(nóng)業(yè)信息技術(shù)研究中心;
- 發(fā)明人張馨;張石銳;田宏武;郭瑞;李文龍;吳文彪;喬曉軍;
- 地址100097 北京市海淀區(qū)曙光花園中路11號農(nóng)科大廈A座318b
- 申請?zhí)?/b>CN201510347813.2
- 申請時間2015年06月19日
- 申請公布號CN104964740A
- 申請公布時間2015年10月07日
- 分類號G01J1/00(2006.01)I;
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