摘要：本發(fā)明公開一種細(xì)胞黏附力的檢測方法，包括以下步驟：a、制備多細(xì)菌探針和/或單細(xì)菌細(xì)胞探針樣本；b、采用接觸模式對多細(xì)菌探針和/或單細(xì)菌細(xì)胞探針樣本進行AFM測量，獲取隨時間變化的力-距曲線；c、根據(jù)細(xì)菌細(xì)胞熒光染色、電鏡圖片及力-距曲線形態(tài)判斷細(xì)菌探針質(zhì)量，去除無效曲線后讀取粘附峰的最大值，即為樣本表面與細(xì)胞的粘附力。本發(fā)明還公開了一種細(xì)胞探針固定裝置。本發(fā)明采用原子力顯微鏡在近生理條件下定量檢測多細(xì)菌及單細(xì)菌的黏附力，分析細(xì)菌黏附行為，可用于材料的抗菌性評價，為菌斑生物膜的形成機制研究提供新的方法和思路；本發(fā)明同時公開了一種適用于本檢測方法的細(xì)胞探針固定支架。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人四川大學(xué);
- 發(fā)明人蔣麗;李偉;王傳勇;周京琳;郝麗英;鄭賽男;
- 地址610065 四川省成都市武侯區(qū)一環(huán)路南一段24號
- 申請?zhí)?/b>CN201511020241.3
- 申請時間2015年12月29日
- 申請公布號CN105567781A
- 申請公布時間2016年05月11日
- 分類號C12Q1/02(2006.01)I;
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