摘要：本申請公開了一種三維地質(zhì)表面模型中的插值數(shù)據(jù)處理方法，包括以下步驟：獲取采樣點集合；計算采樣點集合中采樣點的曲率；將采樣點集合投影到水平面；在水平面生成用于覆蓋采樣點集合的水平面投影的控制點集合；根據(jù)采樣點的曲率計算控制點集合中控制點的曲率；根據(jù)曲率密度轉(zhuǎn)化模型計算控制點的插值密度；根據(jù)控制點的插值密度確定插值點集合；其中，插值點根據(jù)控制點的插值密度生成，并且用于對采樣點進行補充，插值點根據(jù)控制點的插值密度生成，并且用于對采樣點進行補充，從而可以提高生成的面片單元的質(zhì)量，進而提高面片單元的規(guī)范性和精度，可以用于地質(zhì)結(jié)構(gòu)的量化研究。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人浙江大學城市學院;
- 發(fā)明人戴曉霞;唐培培;孫霖;王澤兵;蘇健;翁文勇;
- 地址310015 浙江省杭州市拱墅區(qū)湖州街51號
- 申請?zhí)?/b>CN201610190583.8
- 申請時間2016年03月29日
- 申請公布號CN105869210A
- 申請公布時間2016年08月17日
- 分類號G06T17/05(2011.01)I;G06T17/30(2006.01)I;
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