摘要：本發(fā)明提供一種光斑增強處理方法，應用于激光測距，所述方法包括：獲取激光光斑圖像的灰度值極大值點p1,p2,…,pn；預設光斑半徑r，將光斑半徑r與灰度值極大值點p1,p2,…,pn兩兩之間的距離進行比較，獲取光斑中心；對以光斑中心為圓心、r為半徑的區(qū)域進行圖像增強處理。上述方法通過先獲取光斑的灰度值極大值點，再確定其中的一點為光斑中心，并對相應區(qū)域進行增強處理，能夠?qū)す猱a(chǎn)生光斑進行增強顯示，使得用戶能夠清楚地對光斑進行觀察，并且不需要借助輔助設備，提供了很大的方便。本發(fā)明還提供了一種應用上述光斑增強處理方法的裝置及激光測距儀。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人深圳市邁測科技股份有限公司;
- 發(fā)明人李春來;侴智;駱龍;陳文東;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道留仙大道1213號眾冠紅花嶺工業(yè)南區(qū)2區(qū)9棟6樓
- 申請?zhí)?/b>CN201610848440.1
- 申請時間2016年09月23日
- 申請公布號CN106249220A
- 申請公布時間2016年12月21日
- 分類號G01S7/48(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I;
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