摘要：本發(fā)明公開了一種基于可變碼率的糾錯碼提高固態(tài)盤的可靠性方法，隨著固態(tài)盤存儲密度的提升，數(shù)據(jù)可靠性遭到破壞。糾錯碼被使用以保證數(shù)據(jù)可靠性，在固態(tài)盤使用的整個過程，傳統(tǒng)的方法采用同一碼率的糾錯碼來保證數(shù)據(jù)的整體可靠性。但是，在固態(tài)盤使用的最初階段，擦寫次數(shù)較少，比特錯誤率較低，需要較低糾錯能力的碼，采用這種同一碼率的糾錯碼會造成一定的空間和計算開銷。為了適應固態(tài)盤閃存壽命的變化，我們采用具有不同碼率的糾錯碼來保證數(shù)據(jù)的可靠性進而提升性能和降低開銷。具有不同碼率的低密度奇偶檢驗碼被采用，同時根據(jù)固態(tài)盤閃存塊的使用情況采用不同的LDPC譯碼方法，以取得可靠性和譯碼延遲之間的平衡。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學;
- 發(fā)明人吳非;謝長生;張猛;馬瑞祥;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201610834489.1
- 申請時間2016年09月20日
- 申請公布號CN106484558A
- 申請公布時間2017年03月08日
- 分類號G06F11/10(2006.01)I;
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