摘要：本發(fā)明公開了一種降低開關(guān)損耗的IGBT器件驅(qū)動電路及方法，包括檢測模塊，電流驅(qū)動模塊，比較模塊和邏輯控制模塊；邏輯控制模塊的輸入端用于連接外部的脈寬調(diào)制信號和數(shù)字位選信號，邏輯控制模塊的反饋端連接比較模塊的輸出端，電流驅(qū)動模塊的輸入端連接至邏輯控制模塊的輸出端，電流驅(qū)動模塊的輸出端用于連接IGBT器件的控制端，檢測模塊的輸入端用于連接至IGBT器件的輸出端，檢測模塊的輸出端連接至比較模塊的輸入端。本發(fā)明可降低IGBT器件的關(guān)斷功率損耗，避免因關(guān)斷導(dǎo)致的電流電壓過沖燒毀器件，同時可以精確控制驅(qū)動電路的輸出電壓和電流，在不增大IGBT關(guān)斷過沖電壓的同時加快關(guān)斷速度，信號延遲較小，可保證IGBT器件在短暫的關(guān)斷時間內(nèi)驅(qū)動模塊的反饋回路正常工作。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人華中科技大學(xué);
- 發(fā)明人童喬凌;聶成鯤;李啟東;蔡亞坤;陳飛;張僑;閔閏;陳晨;
- 地址430074 湖北省武漢市洪山區(qū)珞喻路1037號
- 申請?zhí)?/b>CN201611004739.5
- 申請時間2016年11月15日
- 申請公布號CN106505839A
- 申請公布時間2017年03月15日
- 分類號H02M1/08(2006.01)I;H02M1/44(2007.01)I;
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