摘要：一種帶有光學(xué)分離子檢測裝置的非損傷微測系統(tǒng)，包括電極離子/分子信息檢測單元、光學(xué)離子/分子信息檢測單元、數(shù)據(jù)采集/放大系統(tǒng)、可編程三維運(yùn)動系統(tǒng)以及計(jì)算機(jī)自動控制/數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，屬光機(jī)電一體化技術(shù)領(lǐng)域。計(jì)算機(jī)自動控制/數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)既可以同時(shí)控制電極離子/分子信息檢測單元和光學(xué)離子/分子信息檢測單元協(xié)同測試，同時(shí)記錄處理兩個(gè)檢測單元的數(shù)據(jù)信息；又可以只控制電極單元或光學(xué)單元單獨(dú)檢測。通過配備光學(xué)分離子檢測裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)樣品內(nèi)外離子/分子同時(shí)測量等操作，使得測試實(shí)驗(yàn)獲得的數(shù)據(jù)更加全面，可靠性更高，適應(yīng)不同行業(yè)、不同領(lǐng)域的測試要求，大大擴(kuò)展了測試數(shù)據(jù)的應(yīng)用范圍，也有利于節(jié)約人力物力財(cái)力成本。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請人旭月(北京)科技有限公司;
- 發(fā)明人許越;
- 地址100080 北京市海淀區(qū)蘇州街49-3號盈智大廈601
- 申請?zhí)?/b>CN200920106770.9
- 申請時(shí)間2009年04月09日
- 申請公布號CN201440126U
- 申請公布時(shí)間2010年04月21日
- 分類號G01N21/85(2006.01)I;G01N27/333(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;
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