摘要：本實用新型公開了一種電容測試裝置，包括電容接入單元、PLC單元、電容參數(shù)轉(zhuǎn)換單元、可編程控制器和顯示單元，其中電容接入單元設(shè)置有電容插入接口，用于與待測電容插接以將其接入測試裝置中，PLC單元與該電容接入單元電連接，電容參數(shù)轉(zhuǎn)換單元包括C/F變換電路或者V/T變換電路，該PLC單元可根據(jù)電容類別選擇不同的輸入通道，以將待測電容與C/F變換電路和/或V/T變換電路連通，電容參數(shù)轉(zhuǎn)換單元中的C/F變換電路用于將電容參數(shù)轉(zhuǎn)換成為波形頻率參數(shù)，V/T變換電路用于將電容參數(shù)轉(zhuǎn)換成為時間參數(shù)，可編程控制器通過計算波形頻率以及時間大小，即可得到電容測試結(jié)果。本實用新型的裝置可實現(xiàn)對多種類型電容的準確可靠測量，解決現(xiàn)有的檢測裝置兼容性差的問題。
- 專利類型實用新型
- 申請人武漢華中數(shù)控股份有限公司;
- 發(fā)明人劉江濤;鮮飛;沈應(yīng)龍;鄭治楨;
- 地址430223 湖北省武漢市東湖開發(fā)區(qū)華工科技園
- 申請?zhí)?/b>CN201520699241.X
- 申請時間2015年09月10日
- 申請公布號CN204945288U
- 申請公布時間2016年01月06日
- 分類號G01R31/01(2006.01)I;
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