摘要：1．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱：X射線熒光光譜儀（E9）。2．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。3．本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點：形狀。4．最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片：立體圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人深圳市禾苗分析儀器有限公司;
- 發(fā)明人楊寧波;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區(qū)南頭關(guān)口二路智恒戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)園（原安樂工業(yè)區(qū)綜合樓）27棟2樓B
- 申請?zhí)?/b>CN201330322941.3
- 申請時間2013年07月11日
- 申請公布號CN302679619S
- 申請公布時間2013年12月11日
- 分類號10-04;
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