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大面積薄膜太陽能電池量子效率測(cè)量系統(tǒng)

大面積薄膜太陽能電池量子效率測(cè)量系統(tǒng)
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產(chǎn)品報(bào)價(jià): 面議
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ZOLIX
SolarCellScan10-Film
北京
詳細(xì)說明

 

 在國(guó)際市場(chǎng)硅原材料持續(xù)緊張的背景下,薄膜太陽電池已成為國(guó)際光伏市場(chǎng)發(fā)展的新趨勢(shì)和新熱點(diǎn)。與傳統(tǒng)的單晶、多晶硅電池的制備工藝不同,制備大面積的薄膜太陽能電池成為可能。
SolarCellScan 10-Film是一款用于大面積太陽能電池光譜響應(yīng)和量子效率測(cè)試的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。它采用光纖輸出,結(jié)合大行程三維位移臺(tái)。可以實(shí)現(xiàn)對(duì)500mm*500mm面積的各種材料太陽能電池的光譜響應(yīng)度、外量子效率、內(nèi)量子效率、反射率、表面均勻度、擴(kuò)散長(zhǎng)度、短路電流密度測(cè)量等參數(shù)的自動(dòng)量測(cè)功能。
主要特點(diǎn):
■ 全光譜太陽光模擬(300~2000nm),測(cè)試的光伏材料拓展至近紅外
■ 單色光源可選擇氙燈、鎢燈
■ 偏置光路適合多結(jié)及多層膜電池測(cè)量
■ 一鍵式全自動(dòng)多結(jié)電池測(cè)試功能
■ 快速M(fèi)apping掃描功能,<30min(156mmX156mm,1mm step)
■ 一體化設(shè)計(jì)操作更方便,系統(tǒng)更穩(wěn)定
■ 提供完善的QE/IPCE分析手段
■ 提供LBIC高分辨率多波長(zhǎng)激光模塊功能選項(xiàng)
  (分辨率<250um,波長(zhǎng)405nm、532nm、650nm、808nm、845nm、980nm)
 
氙燈、鎢燈以及自動(dòng)氙燈鎢燈復(fù)合光源可選
根據(jù)IEC推薦標(biāo)準(zhǔn),對(duì)太陽電池進(jìn)行光譜響應(yīng)測(cè)試,紫外區(qū)推薦使用氙燈(<400nm),而對(duì)可見與近紅外區(qū)則推薦使用鎢燈光源。系統(tǒng)有150W氙燈、150W溴鎢燈和氙燈鎢燈復(fù)和光源三種模式可選,滿足您的各種測(cè)試需求。
 
多功能的偏置光附件
系統(tǒng)提供偏置光源附件。偏置光源是太陽能電池量子效率測(cè)量時(shí)的有用附件,它提供給樣品一個(gè)用戶可調(diào)節(jié)的測(cè)試環(huán)境。在開放式的偏置光路上,系統(tǒng)預(yù)留了若干光學(xué)元件夾持器,用戶可以根據(jù)測(cè)量需要自行加裝衰減片、濾光片等,也可搭配六檔自動(dòng)濾光片輪安裝不同的濾光片實(shí)現(xiàn)多結(jié)太陽電池的自動(dòng)測(cè)量。多結(jié)太陽電池的用戶強(qiáng)烈建議選配偏置光源附件
 
快速M(fèi)apping功能
   采用自主研發(fā)的高靈敏度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),可以分別實(shí)現(xiàn)AC與DC兩種模式的快速M(fèi)apping功能,并可一次掃描同時(shí)得到QE(LBIC)、反向率、內(nèi)量子效率、DL(Diffission Length)的Mapping數(shù)據(jù)。針對(duì)高分辨率應(yīng)用,更換多波長(zhǎng)激光光源和聚焦系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)<250um分辨率的Mapping。
LBIC-125mmX125mm-400nm
LBIC-125mmX125mm-650nm
LBIC-125mmX125mm-950nm
 
 
 
人性化的樣品臺(tái)設(shè)計(jì)
積累10年自動(dòng)平臺(tái)設(shè)計(jì)生產(chǎn)制造經(jīng)驗(yàn),針對(duì)大面積薄膜電池設(shè)計(jì)兩維各500mm掃描范圍,光斑大小通過聚焦離焦自動(dòng)可調(diào),完全滿足QE測(cè)試使用需求,可任意定位單點(diǎn)測(cè)量QE曲線,可自定義掃描兼具完成QE Mapping測(cè)量,自動(dòng)平臺(tái)掃描控制使用卓立自主研發(fā)高速程序與硬件,結(jié)合高速數(shù)據(jù)采集,可以實(shí)現(xiàn)0.5mm間距條件下,每秒可掃描20點(diǎn)的高速掃描,對(duì)制程品質(zhì)監(jiān)控提供快速的分析手段。
 
 
 
 
 
 
系統(tǒng)規(guī)格:
項(xiàng)   目
指標(biāo)和說明
光源
150W氙燈光纖輸出,光學(xué)穩(wěn)定度≦0.8%,可工作在斬波模式,
測(cè)試光斑尺寸
3mm~10mm
單色儀
三光柵DSP掃描單色儀
波長(zhǎng)范圍
300nm~2000nm
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度
a) ±0.3nm(1200g/mm,300nm) 
b) ±0.6nm(600g/mm,500nm)
c) ±0.8nm(300g/mm,1250nm)
掃描間隔
小可至0.1nm
輸出波長(zhǎng)帶寬
<5 nm
多級(jí)光譜濾除裝置
根據(jù)波長(zhǎng)自動(dòng)切換,消除多級(jí)光譜的影響
光調(diào)制頻率
4 - 400 Hz
標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器
標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)硅探測(cè)器,InGaAs探測(cè)器,含校正報(bào)告
偏置光源
150W Xenon Lamp 光纖輸出
數(shù)據(jù)采集裝置靈敏度
直流模式:100nA;交流模式:2nV
測(cè)量重復(fù)精度
對(duì)太陽光譜曲線積分重復(fù)性在±1%以內(nèi)
測(cè)量速度
單次光譜響應(yīng)掃描<1min,IPCE完整測(cè)試<5min (步長(zhǎng)5nm)
X Y 自動(dòng)工作臺(tái)
300x300mm 或 500x500mm
單波長(zhǎng) QE Mapping
速度:20 Point/Second @ 0.5 mm Step
 
 
選型表
SCS10-X150-F300
150W Xenon arc lamp for probe source, optical stability ≦0.8%, Adjust mechanism: It can easy remove chopper from probe light
a)  ± 0.3nm;1200g/mm, blaze 300nm (1st grating)
b)  ± 0.6nm;600g/mm, blaze 500nm (2nd grating)
c)  ± 0.8nm;300g/mm, blaze 1250nm (3rd grating)
6 Position Filter Wheel(200-2000nm)
DC mode(Data Acquisition System with Pre Amplifier )
AC mode( Lock-In Amplifier )
Chopper
Short current preamplifier
Calibrated Si Detector
Calibrated InGaAs Detector
150W Xenon Bias Light Source with fiber output, White bias light source, optical stability ≦0.8%, with 1 inch Filter Wheel
XY Stage for QE Uniformity Scanning, 300mm x300mm
SCS10-X150-F500
XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm
SCS10-T150-F300
150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm
SCS10-T150-F500
150W Tungsten-Halogen Light Source instead of Xenon 150W Light Source. XY Stage for QE Uniformity Scanning, 500mm x500mm
 
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