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涂層測(cè)厚儀MiniTest3100

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100
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MiniTest3100 /1100/2100/4100
北京
詳細(xì)說明

  涂層測(cè)厚儀MiniTest3100

MiniTest涂層測(cè)厚儀能
型號(hào)
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲(chǔ)顯示每個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
-
其他能
透過涂層行校準(zhǔn)(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償個(gè)常數(shù)(Offset)
-
-
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)能
-
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
設(shè)置限值
-
-
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別大小值
-
-
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示
-
連續(xù)測(cè)量模式中顯示小值

MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
小曲率
半徑(凸/凹)
小測(cè)量
區(qū)域直徑
小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測(cè)厚儀探頭圖示
涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭, 別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度


涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F05
0~500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F10
0~10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F20
0~20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 F50
0~50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的薄鍍鉻層

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的緣覆層
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很(0.1μm)

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等

涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 N100
0~100mm,200mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的緣覆層,如橡膠玻璃等
涂層測(cè)厚儀MiniTest3100 CN02
10~200μm,φ7mm
用于測(cè)量緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

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