Panametrics 35系列的特性

• 所有型號的標準配置均包含聲速和減縮率測量。
• 可測厚度范圍寬：0.08 mm～635.0 mm（0.0030 in.～25.0 in.），取決于儀器和材料。
• 采用接觸式、延遲線式、水浸式探頭。
• 自動調(diào)用功能可調(diào)用默認設置和自定義設置。
• 手持式，僅重0.24公斤（8.5盎司）。
• 小/模式
• 高-低報警
• 英制和公制顯示（英寸或毫米）
• 多種語言用戶界面
• 長效電池

在大多數(shù)應用中都可應用35型和35DL型
35型和35DL型測厚儀使用頻率范圍為2.25～30 MHz的探頭，因此這些通用型測厚儀可完成大多數(shù)從極薄到極厚材料的厚度測厚。一般來說，探頭頻率越高而直徑越小，對較薄或彎曲的工件測量的精度越高。

應用
• 從薄到厚的大多數(shù)材料
• 薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道、及板材
• 薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼卷材及機加工部件
• 汽缸孔、渦輪葉片
• 玻璃燈泡、瓶子
• 薄玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復合材料
• 半徑較小的曲面部分或容器
• 分辨率可達0.001毫米或0.0001英寸

HP測厚儀具有極低的超聲頻率帶寬和特殊的脈沖發(fā)生器-接收器。這種設計的主要目的是在測量較厚的、聲速衰減明顯或聲速散播強的材料時優(yōu)化超聲波的穿透性。通常情況下，使用大多數(shù)其它超聲測厚儀無法對這些材料進行測量。

應用
• 大多數(shù)較厚的或具有高聲速衰減性的材料
• 厚金屬鑄件
• 厚橡膠輪胎、履帶
• 玻璃纖維船體、儲罐
• 復合材料板
• 分辨率為0.01毫米或0.001英寸

測量
模式1：	使用接觸式探頭，測量在激勵脈沖和個底面回波之間的時間間隔。
模式2：	使用延遲線式或水浸式探頭時，測量在激勵脈沖后的個界面回波和個底面回波之間的時間間隔。
模式3：	使用延遲線式或水浸式探頭，測量在激勵脈沖之后，位于個界面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔。