用途;
在光學(xué)冷加工中用于檢驗球面和非球面的質(zhì)量
測定光學(xué)零件或光學(xué)系統(tǒng)的像差，如球差、像散等
測定凹球面的曲率半徑
檢驗光學(xué)材料中的缺陷，如條紋，不均勻性等
光學(xué)系統(tǒng)的檢驗和裝配，用它檢驗各種非球面及大口徑的球面和平面
技術(shù)指標：
相對孔徑：D/F=1：2
小孔直徑：0.03，0.06，0.08，0.2，0.5，1mm
狹 縫 寬：0.05，0.15mm
儀器重量：2KG
粗調(diào)升降：70mm
微調(diào)升降：15mm
移 動 量：縱向橫向各15mm
讀 書 值：0.01mm
