| 太陽光譜反射率儀 美國(guó) 型號(hào)：SSR-E2 | 貨號(hào)：ZH10937 |
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 太陽光譜反射率儀提供準(zhǔn)確的材料漫反射和鏡面反射測(cè)量，材料樣品小厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重復(fù)性達(dá)到0.003。 采用鎢絲提供漫反射光源，測(cè)量4個(gè)濾光探測(cè)器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測(cè)器主要覆蓋紫外、藍(lán)光、紅光和IR光譜范圍。2個(gè)額外的探測(cè)器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)體隨機(jī)提供，標(biāo)準(zhǔn)體通過美國(guó)National Bureau of Standards Materials 標(biāo)定，儀器經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)體定標(biāo)后即可開始測(cè)量。 默認(rèn)操作模式下，儀器每完成一個(gè)測(cè)量循環(huán)的時(shí)間為8秒鐘，鎢燈亮6秒的同時(shí)并記錄檢測(cè)器偏移值，燈亮兩秒鐘后6個(gè)探測(cè)器進(jìn)行反射率測(cè)量并存儲(chǔ)，計(jì)算太陽反射比并顯示在LCD上，然后關(guān)閉光源。通過鍵盤可切換6個(gè)探測(cè)器的反射比或吸收比顯示。 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：美國(guó)ASTM C1549-04標(biāo)準(zhǔn)和ASTM E1980-01標(biāo)準(zhǔn)。 參數(shù)： 定制測(cè)量頭：標(biāo)配測(cè)量頭用來測(cè)量平面樣品材料，可定制測(cè)量頭用來測(cè)量曲面材料樣品，如13mm直徑圓柱面。 手 柄：便于測(cè)量使用 12V便攜供電套裝：可連續(xù)測(cè)量5個(gè)小時(shí)的12V電池、充電器、運(yùn)輸箱 分 辨 率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比至0.001 重 復(fù) 性：±0.003 準(zhǔn) 確 性：±0.002 漂 移：5分鐘預(yù)熱，漂移小于每小時(shí)±1%或者讀數(shù)+0.003 溫 度：電子組件操作溫度60℃，測(cè)量頭50℃ 濕 度：80% 標(biāo) 準(zhǔn) 體：提供漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)體，經(jīng)過NBS定標(biāo) 測(cè)量端口：1英寸直徑，小樣品直徑1.1英寸， 光 源：插拔式可換鎢絲燈 供 電：100-240VAC電源 線 纜：標(biāo)配長(zhǎng)度1.5m，可選長(zhǎng)度10m 重 量：測(cè)量頭0.9kg，電子模塊1.8kg，透射率附件4.5kg 透射率測(cè)量附件：SSR-T透射率測(cè)量附件可以和SSR-R反射測(cè)量頭兼容進(jìn)行樣品太陽輻射透射率測(cè)量，透射率測(cè)量角度從法線方向至60°可調(diào)，采用漫反射光源 照明并測(cè)量。 應(yīng)用領(lǐng)域： 航空領(lǐng)域：熱控制涂層 控制領(lǐng)域：鍍膜、涂層 太陽能領(lǐng)域：吸收涂層、反射涂層、鏡面和反射鏡 訂貨指南： 太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，反射率測(cè)量頭，2個(gè)白瓷體，1個(gè)鏡面標(biāo)準(zhǔn)體，黑體，6’信號(hào)電纜，鹵素光源，光譜性能標(biāo)準(zhǔn)，電源，電源線和運(yùn)輸箱。 太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，具有手柄的反射率測(cè)量頭，可實(shí)現(xiàn)5個(gè)小時(shí)連續(xù)測(cè)量的12v電池和充電器，2個(gè)白瓷體，1個(gè)鏡面標(biāo)準(zhǔn)體，黑體，6’信號(hào)電纜，鹵素光源，光譜性能標(biāo)準(zhǔn)。電源，電源線和運(yùn)輸箱。 可選項(xiàng)： 透射率測(cè)量附件。 |  |
