2015年，美國ASD公司（現(xiàn)隸屬于荷蘭帕納科）推出FieldSpec 4地物光譜儀Hi-Res NG，將光譜分辨率提升至6nm，這進一步提高了下一代高光譜成像傳感器的分析精度，是地物光譜儀器的一次重要變革。
更高分辨率的高光譜儀器可以協(xié)助用戶提高遙感分類應用的精度，識別更多之前無法從高光譜圖像中獲取的點像元信息。為了充分發(fā)揮下一代傳感器的潛能，那么基于地面測量的光譜儀器必須滿足或者超越成像傳感器的光譜分辨率，如果分辨率達不到高光譜成像的要求，那么數(shù)據在后處理過程中會因插值而丟失重要的光譜信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光譜儀大大提升了光譜分辨率，正是為了滿足下一代高光譜成像系統(tǒng)（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的嚴格要求而設計。除了優(yōu)越的光譜分辨率，像所有ASD地物光譜儀一樣，F(xiàn)ieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR檢測器，在350nm到2500nm的全光譜范圍進行1875波段（編碼通道）的檢測，從而提供小的采樣間隔（采樣帶寬），確?？梢詸z出樣品細微的光譜特征。
優(yōu)點：
完全為野外遙感設計
在太陽作為光源的情況下，同時擁有更高光譜分辨率和更低等效輻射噪聲
光纖與主機嚴格固定，一體定標，可溯源到美國NIST
外形美觀，堅固耐用，人體工學設計，使用體驗舒適方便
海量應用文獻，數(shù)據庫完備，無縫兼容ENVI、TSG等更多的第三方工具軟件
性能指標
波長范圍 | 350-2500 nm |
光譜分辨率 | 3 nm @ 700 nm 6 nm @ 1400/2100 nm |
采樣間隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm |
掃描時間 | 100 ms |
雜散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波長重復性 | 0.1 nm |
波長準確度 | 0.5 nm |
輻射 | VNIR 2 倍太陽光, SWIR 10 倍太陽光 |
通道數(shù) | 2151 |
檢測器 | VNIR 檢測器 (350-1000 nm): 512 像元硅陣列傳感器 SWIR 1 檢測器 (1001-1800 nm): SWIR 2 檢測器 (1801-2500 nm): InGaAs 檢測器, TE 制冷 |
輸入 | 1.5 m 光纖(25° 視場). 可選前置鏡頭改變視場角 |
等效噪聲輻射（外接光纖） | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 8.0 X10 -9W/cm2/nm/sr @ 1400 nmSWIR 2 8.0 X10 -9W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
重量 | 5.44 kg |
校準 | 波長, 反射率, 輻射度*, 福照度*.所有的校準可NIST溯源. (*輻射定標可選) |
電腦 | Windows® |
保修 | 一年整機保修（包含專家支持） |
制造商：英國ASD
