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聲波測(cè)厚儀

聲波測(cè)厚儀
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產(chǎn)品報(bào)價(jià): 面議
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亞歐
DP-MiniTest 400
高教
北京
詳細(xì)說(shuō)明

聲波測(cè)厚儀


聲波測(cè)厚儀DP-MiniTest 400/400A/400B 
聲波測(cè)厚儀
阻抗雙晶探頭
脈沖-回波方式 量程達(dá)0.65-400mm
回波-回波方式(透過(guò)涂層測(cè)量) 量程達(dá)3-25mm
堅(jiān)固的防靜電、防火塑料外殼。
快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
適用于各種板材、管材、油罐、輸油管、鍋爐容器壁厚及其局腐蝕、銹蝕的檢測(cè)。
適用于煉油、鋼鐵、冶金、船、機(jī)械、化、電力、原子能等各業(yè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)。
DP-MiniTest 400
操作簡(jiǎn)便,易于使用。將探頭放置到被測(cè)物體表面上,即可讀出所測(cè)厚度的數(shù)據(jù),或是將探頭沿被測(cè)物體表面拖動(dòng),即可找出所測(cè)物體厚度薄點(diǎn)位置。
DP-MiniTest 400A
聲波測(cè)厚儀具有MiniTest 400能外,新增了下列能:
探頭自動(dòng)識(shí)別
開(kāi)機(jī)自動(dòng)校零
預(yù)置9種常用材料聲速值
數(shù)據(jù)分組
USB接口上傳
聲速測(cè)量
設(shè)限測(cè)量
小值測(cè)量
差值測(cè)量
DP-MiniTest 400B
聲波測(cè)厚儀具有MiniTest 400A能外,新增了下列能:
回波-回波測(cè)量(透過(guò)涂層測(cè)量)
標(biāo)準(zhǔn)配置 可選配置
儀器主機(jī) 階梯試塊,通訊電纜,通訊軟件,溫探頭等,詳情請(qǐng)咨詢當(dāng)?shù)亟?jīng)
帶連接電纜的探頭支 銷(xiāo)商。
耦合劑
2節(jié)5號(hào)電池
塑料手提箱
中英文說(shuō)明書(shū)
保修卡
參數(shù)
項(xiàng)目
參數(shù)
400
400A
400B
顯示信息
測(cè)量值,聲速值,探頭型號(hào),電池電量,當(dāng)前數(shù)據(jù)組
測(cè)量范圍
回波-回波測(cè)量:3mm-25mm                            
 
 
 
發(fā)射-回波測(cè)量:0.65mm-400mm(不同型號(hào)探頭決定不同測(cè)量范圍)
示值度
小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm
單位
公制/英制
聲速范圍
1000m/s - 9999m/s,
增益
自動(dòng)
 
手動(dòng)
 
 
聲速測(cè)量
確定未知聲速材料的聲速,預(yù)置9種常用材料聲速值
 
探頭識(shí)別
自動(dòng)識(shí)別探頭
 
零位校準(zhǔn)
開(kāi)機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn)
 
測(cè)量模式
發(fā)射-回波模式
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量:滿足常用的檢測(cè)要求
小值測(cè)量:滿足曲面或需要選擇小值的測(cè)量環(huán)境
 
差分測(cè)量:顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值
 
平均測(cè)量:提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值
 
上下限測(cè)量:限報(bào)警
 
回波-回波模式
透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度
 
 
快速掃查模式
適用于溫或需要提測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境,每秒10次的測(cè)量,可以同時(shí)顯示測(cè)量中的值和小值
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
1組600個(gè)數(shù)據(jù)
 
 
10組5000個(gè)數(shù)據(jù),動(dòng)態(tài)分配
 
數(shù)據(jù)輸出
USB接口,通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)
 
關(guān)機(jī)選擇
可選擇2分鐘,5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī)
外形尺寸
130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
重量
約190g
作溫度
-20至50攝氏度
電池
兩節(jié)5號(hào)電池,電量顯示,電量不足報(bào)警
作時(shí)間
不間斷測(cè)量不少于80小時(shí)
顯示屏
128×64 背光
DP-Minitest400可選探頭:
型號(hào)
晶體直徑
頻率
測(cè)量范圍
作溫度
簡(jiǎn)介
P4
4MM
10.0MHZ
0.8-20MM
-12-+60℃
小管徑探頭
P6
6MM
7.5MHZ
0.8-150MM
-12-+60℃
主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.
P8
8MM
5.0MHZ
0.8-350MM
-12-+60℃
標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。
P12
10MM
5.0MHZ
1.0-500MM
-12-+60℃
測(cè)厚探頭,主要用于測(cè)量厚度100-500MM的物體.
ECP12
12MM
2.5MHZ
3-50MM
-12-+75℃
粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.
PHT12
12MM
5.0MHZ
1.2-350MM
-12-+350℃
溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.
PHT12
12MM
5.0MHZ
1.2-350MM
-12-+550℃
溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于550℃的材料的測(cè)量,注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.
DP-Minitest400A/B可選探頭:
型號(hào)
晶體直徑
頻率
測(cè)量范圍
作溫度
簡(jiǎn)介
EP8E
8MM
5.0MHZ
3-25MM(E-E)
0.8-300MM(T-E)
-12-+60℃
400B探頭,具有透過(guò)涂層測(cè)量模式
EP4
4MM
10.0MHZ
0.65-20MM
-12-+60℃
小管徑探頭
EP6
6MM
7.5MHZ
0.65-50MM
-12-+60℃
主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量.
EP8
8MM
5.0MHZ
0.8-350MM
-12-+60℃
標(biāo)配探頭,主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。
ECP12
12MM
2.0MHZ
2.0-400MM
-12-+60℃
粗晶探頭,主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量.
EHP13
13MM
5.0MHZ
3.0-200MM
-12-+350℃
溫探頭,主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量,
注:測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S.

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