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亞歐
DP-QUJ
詳細(xì)說(shuō)明
漆膜測(cè)厚儀，測(cè)厚儀 型號(hào)：DP-QUJ
依據(jù)GB/T 13452.2-92、ISO
2808-1984。是利用千分表刻度盤示被測(cè)物的厚度以μm表示。
適用于測(cè)量磁性、非磁性物體上涂層膜層厚度。漆膜硬到足以經(jīng)受住與千分尺卡頭緊密接觸時(shí)而無(wú)壓痕。
設(shè)備儀器：
(1) 測(cè)厚儀：度達(dá)到2μm，重復(fù)性
(2) 千分表每年需經(jīng)省市法定計(jì)量鑒定。
