橢圓偏振測(cè)厚儀 偏振測(cè)厚儀 測(cè)厚儀
型號(hào)：MHY-19128
在近代科學(xué)的許多域中對(duì)各種薄膜的研究和應(yīng)用日益廣泛。因此，更加和迅速的測(cè)定給定薄膜的光學(xué)參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實(shí)際作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測(cè)定光學(xué)參數(shù)，如：布儒斯角法測(cè)介質(zhì)膜的折射率，干涉法測(cè)膜厚，其它測(cè)膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，因而，橢圓偏振法測(cè)量已在光學(xué)、半導(dǎo)體、生物、學(xué)等諸多域得到廣泛應(yīng)用。
產(chǎn)品點(diǎn)：
儀器采用消光法自動(dòng)測(cè)量薄膜厚度和折射率，具有度、靈敏度以及方便測(cè)量等點(diǎn)；
光源采用氦氖激光器，率穩(wěn)定、波長(zhǎng)度；
儀器配有生成表、查表以及計(jì)算等軟件，方便用戶使用。
規(guī)格與主要標(biāo)：
測(cè)量范圍：薄膜厚度范圍：1nm-300nm； 折射率范圍：1-10
測(cè)量小示值：≤1nm 入射光波長(zhǎng)：632.8nm
光學(xué)中心：80mm 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器方位角范圍：0°- 180°讀取分辨率為0.05°
測(cè)量膜厚和折射率重復(fù)性度分別為：±1nm和±0.01
主機(jī)重量：25kg 入射角連續(xù)調(diào)節(jié)范圍：20°- 90°度為0.05°
成套性：主機(jī)、電控系統(tǒng)、計(jì)算軟件
外形尺寸：680*390*320mm
