四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
四探針探頭 探頭 型號(hào)：GSZ-HP-501
四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
| ◆特性及規(guī)格： | ||||||||||
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型號(hào)
（Model） |
曲率半徑
（Radius） |
壓力
（loads） |
探針間距
（spacing） |
探針排列
（Arrangement） |
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GSZ-HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直線
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