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介電常數(shù)測試儀

產(chǎn)品報價：面議

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產(chǎn)品熱度：加載中

品　　牌：北京恒奧德儀器儀表有限公司

產(chǎn)品型號：HAD-Y2858

適用范圍：高教

所在地區(qū)：北京

應(yīng)用學(xué)校：清華大學(xué)

詳細(xì)說明

介電常數(shù)測試儀型號：HAD-Y2858

HAD-Y2858系列介電常數(shù)測試儀由頻阻抗分析儀、測試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對緣材料行低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

HAD-Y2858系列介電常數(shù)測試儀作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能成作頻率內(nèi)對緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ)變化的測試。

HAD-Y2858系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器般用來夾被測樣品，配用頻阻抗分析儀作為示儀器。緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數(shù)通過公式計算得到。

1 點(diǎn)：
◎頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值度和重復(fù)性。

◎介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1～10⁵

2 主要術(shù)標(biāo)：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量度（10kHz）：ε：±2%，D：±5%±0.0001。

2.2頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號	HAD-Y2817	HAD-Y2818A
作頻率范圍	100Hz～100kHz（6個頻點(diǎn)）度：±0.05%	20Hz～1MHz 數(shù)字合成，度：±0.02%
電容測量范圍	0.0001pF～99999μF 四位數(shù)顯	0.00001pF～9.99999F 六位數(shù)顯
電容測量基本誤差	±0.05%	±0.05%
損耗因素D值范圍	0.0001～9.9999 四位數(shù)顯	0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

2.3 HAD-Y916B 介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電）

2.3.1 平板電容器片尺寸：Φ38mm和Φ50mm二種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm，±0.001mm
2.3.3插頭間距：與電橋四端配合

加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以成200℃控溫度l℃加熱測試

HAD-Y918 密介電常數(shù)測試裝置提供四種不同直徑測試電，能對直徑φ10～56mm，

厚度<10mm的試樣測量。它針對不同試樣可設(shè)置為接觸電法，薄膜電法和

非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設(shè)置：1m

2.4.4 使用頻率：30MHz

2.5 頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現(xiàn)行頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定門為頻介質(zhì)損耗測量儀

提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人藍(lán)寶石，石英玻璃，

氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。

用戶可按需訂購，以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

2.6 HAD-Y2858系列介電常數(shù)測試儀配置

配置類型	普及型	標(biāo)準(zhǔn)型	密型
電橋作頻率范圍	100Hz～100kHz 度：±0.02%	50Hz～1MHz 度：±0.02%	50Hz～1MHz 度：±0.02%
配置型號	WY2817數(shù)字電橋 +WY916B測試裝置	WY2818A頻阻抗分析儀 +WY916B三電測試裝置	WY2818A頻阻抗分析儀 +WY918密測試裝置（能適宜各種樣品）
介電常數(shù)范圍	1-10000 度：±5%	1-10000 度：±2%	1-10000 度：±2%
損耗因素D值范圍	0.0001～9.9999 四位數(shù)顯	0.00001～9.99999 六位數(shù)顯	0.00001～9.99999 六位數(shù)顯

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