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-70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀

-70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀
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產(chǎn)品報(bào)價(jià): 21000
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皓天設(shè)備
TSE-252
皓天設(shè)備
高教
廣東 深圳 福田區(qū)
詳細(xì)說明

  -70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀

  快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA 、 PCB 基扳、電子芯片 IC 、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化 , 調(diào)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì) , 從精密的 IC 到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想調(diào)試工具。 

-70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀

  -70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo):

  型號(hào):TSE-252F-2P

  1、內(nèi)部尺寸:W700*D600*H600mm

  2、外部尺寸:W1670*D2100*H2300mm

  3、測(cè)試區(qū)溫度范圍:高溫:+60℃~+180℃

  4、低溫:-10℃~-65℃(A:-45℃B:-55℃C:-65℃(高溫區(qū))升溫時(shí)間:RT—200℃約需45min(低溫區(qū))降溫時(shí)間:RT—-70℃約需90min

  5、回復(fù)時(shí)間:5min內(nèi)

  6、溫度穩(wěn)定度:±0.2℃

  控制系統(tǒng):原裝進(jìn)口韓國(guó)TEMI系列控制系統(tǒng)  

-70度低溫快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱溫變沖擊測(cè)試儀

  壓縮機(jī):

  為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和溫度的要求,本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口德國(guó)半封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式水冷制冷系統(tǒng)(需在室外安裝每小時(shí)冷卻水量為10噸的循環(huán)冷卻水塔,由用戶提供)。復(fù)疊式制冷系統(tǒng)包含一個(gè)高溫制熱循環(huán)和一個(gè)低溫制冷循環(huán),其連接容器為蒸發(fā)冷凝器,蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用,將工作室內(nèi)熱能通過兩級(jí)制冷系統(tǒng)傳遞出去,實(shí)現(xiàn)降溫的目的。制冷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù),一種行之有效的處理方式既能保證在制冷機(jī)組正常運(yùn)行的情況下又能對(duì)制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進(jìn)行有效的調(diào)節(jié),使制冷系統(tǒng)的運(yùn)行費(fèi)用和故障率下降到較為經(jīng)濟(jì)的狀態(tài)。

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  標(biāo)準(zhǔn)及執(zhí)行方法:

  GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;

  GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);

  GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);

  GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);

  GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn);

  GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn);

  GJB/T 150.5-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分 溫度沖擊試驗(yàn)。

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