品牌德國(guó) Instrument Systems型號(hào)TOP 200
用途CAS 140D光譜儀配件貨期4-6周
產(chǎn)地德國(guó)
德國(guó)Instrument Systems（IS） TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測(cè)量探頭
TOP 200 –用于輻射和亮度測(cè)量的光學(xué)探頭
詳情介紹
德國(guó)Instrument Systems（IS） TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測(cè)量探頭
TOP 200 –用于輻射和亮度測(cè)量的光學(xué)探頭
TOP 200 光學(xué)探頭基于普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)，帶有集成式取景相機(jī)。
產(chǎn)品特長(zhǎng)：
普里查德式光學(xué)設(shè)計(jì)配有傾斜度僅 15o 的孔鏡，可以提供非常圓的清晰圖像點(diǎn)
光纖的靈活連接和獲取可重現(xiàn)讀數(shù)的L模式混合器，以及極低的偏振靈敏度
可通過(guò)軟件選擇的 6 種測(cè)量點(diǎn)大小
具有寬視場(chǎng)的內(nèi)部取景相機(jī)
ui小的測(cè)量點(diǎn)：80 μm
測(cè)試對(duì)象的可選照明
TOP 150 是具有單孔徑的低成本替代產(chǎn)品。
測(cè)量應(yīng)用
測(cè)得的輻射強(qiáng)度由 TOP 200 通過(guò)多模光纖耦合到光譜儀中。Instrument Systems 的L模式混合器可確保光纖中的光透射均勻，即使光纖位置改變，也可產(chǎn)生可重現(xiàn)讀數(shù)。
普里查德原則支持在測(cè)量過(guò)程中觀察視場(chǎng)，并監(jiān)控視場(chǎng)進(jìn)行準(zhǔn)確定位。取景相機(jī)的圖像由 SpecWin Pro 軟件自動(dòng)導(dǎo)入并與讀數(shù)一起保存。
產(chǎn)品類(lèi)型
型號(hào) | 描述 |
|---|---|
| 基本規(guī)格和光纖 | |
TOP200-100 | 光學(xué)探頭的基本規(guī)格，帶多模光纖和光纖束連接器 （無(wú)鏡頭和光纖） |
TOP200-203 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的多模光纖（長(zhǎng)度為 2.3 mm）； 300–2200 nm |
TOP200-204 | 帶模式混合器和 PLG 適配器的 UV 多模光纖（長(zhǎng)度為 2.3 mm）； 190–1350 nm |
TOP150-100 | 基于Pritchard光學(xué)原理的基本伸縮光學(xué)探頭，具有單光圈和集成取景器攝像頭（不含鏡頭和光纖） |
| 鏡頭和微距鏡頭 | |
TOP100-308 | 定焦鏡頭 28 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
TOP100-311 | 定焦鏡頭 60 mm；F/2,8； 370-1100 nm |
TOP100-322 | 定焦鏡頭 105 mm; F/4,8; 200–800 nm |
德國(guó)Instrument Systems TOP 200 光學(xué)探頭/輻射亮度測(cè)量探頭/光譜儀配件
用于輻射和亮度測(cè)量的一體化系統(tǒng) DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光學(xué)探頭和鏡頭 | 用于 4 種測(cè)量點(diǎn)大小的帶機(jī)動(dòng)孔徑輪的 TOP 200 光學(xué)探頭，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準(zhǔn)攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。 |
校準(zhǔn) | 光譜輻射和亮度校準(zhǔn)，可追溯至國(guó)jia標(biāo)準(zhǔn) PTB 或 NIST。包括 MIL 證書(shū)。 |
軟件 | SpecWin Pro 實(shí)驗(yàn)室軟件，具有各種功能和特殊 NVIS 評(píng)估模塊。 |
雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測(cè)試必需配置） | 雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測(cè)試必需配置） |
輻照度光學(xué)探頭（可選） | 用于依據(jù) SAE ARP5825（外部照明 NVIS 友好型）標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量 |
定位器（可選） | 手動(dòng)或全自動(dòng)定位器/測(cè)角儀，例如 DTS 500 |
德國(guó)Instrument Systems（IS） TOP 200 光學(xué)探頭 輻射亮度測(cè)量探頭
