弱光微光微光亮度計(jì)是一種測光和測色的計(jì)量儀器。是每個(gè)化學(xué)分析實(shí)驗(yàn)室常用儀器設(shè)備之一在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應(yīng)。微光亮度計(jì)在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。
SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計(jì)（輝度計(jì)、全數(shù)字微光亮度計(jì)），采用 SMT32芯片、嵌入式系統(tǒng)，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定， 適用性強(qiáng)。該儀器測量應(yīng)急出口標(biāo)志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經(jīng)濟(jì)實(shí)用，操作簡易。 亮度探頭V（λ）修正水平達(dá)標(biāo)準(zhǔn)級（CLASS A），實(shí)現(xiàn)亮度的精確測量工作
鋁合金機(jī)身、154寸IPS觸摸屏、上下線設(shè)置、分選測試、光度變化曲線（PC軟件）、16位100KS/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、亮度、小亮度、透射比
一、參數(shù)性能
型號 | SS200LW弱光微光照度計(jì) |
光譜響應(yīng) | Λ380-780nm |
測試功能 | 亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2) |
傳感器 | 硅光器件 |
測量范圍 | 1mcd/m2-10000cd/m2 |
分辨率 | 1m cd/m2 |
V(λ)失配誤差 | f1'≤3.5%（標(biāo)準(zhǔn)級standard class）or f1'≤5%（一級class 1） |
余弦修正特性 | f2'≤2%（標(biāo)準(zhǔn)級）or f2'≤4%（一級） |
感光面積 | Φ8mm（customized according to needs） |
測試范圍 | ±4%（according to JJG245-2005）or ±1%（according to JJG245-2005） |
測量誤差 | 測量允許誤差：一級(±4%讀數(shù)±1個(gè)讀數(shù)）一級 |
光學(xué)測量準(zhǔn)確度 | 探測器余弦修正V(λ)修正水平，達(dá)到一級照度計(jì)要求； |
顯示方式 | 1.54IPS觸摸屏 |
通訊 | Type-C 接口藍(lán)牙 |
用戶校正功能 | 修正系數(shù)功能、校零、定標(biāo) |
外形尺寸 | 50mm*50mm*60mm |
使用環(huán)境 | 溫度：18℃～30℃濕度：35%RH～75%RH |
量程 | 自動量程 |
電池容量 | 1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時(shí)左右 |
重量 | 135g |
顯示刷新率 | 10次／秒； |
采樣 | 16位100KS/s高速AD |
二、探測器光譜響應(yīng)曲線
