晶體阻抗計
晶體阻抗計（晶振測試儀）是一種專業(yè)的晶振測試設備，主要測試無源晶振相應的電參數(shù)。采用π型網(wǎng)絡零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
發(fā)展歷史
晶振測試主要方法主要經(jīng)歷了早期的晶體阻抗計，到目前主流的網(wǎng)絡分析儀方案。早期的晶體阻抗計檢定依據(jù)為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計檢定規(guī)程，代表產(chǎn)品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經(jīng)歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認的測試方法為網(wǎng)絡分析儀測試方案，依據(jù)標準為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》，典型產(chǎn)品有智慧源的GDS-80系列等。
工作原理
晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能。
功能配置
自動測試功能；
超值報警功能
上位機軟件通信功能
尺寸參數(shù)
250*280*150mm
產(chǎn)品特點
1. 中心頻率范圍：10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）
3. 負載電容：1-100P 任意設定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm）測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
6. 負載電容CL測量范圍：1-200PF
7. 時基誤差：±1ppm
8. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
注意事項
1.設備需要定期進行PI網(wǎng)絡校準
2.設備需要定期進行頻率校準
問題一：怎么測量一個晶振的好壞? 一個小技巧：沒有示波器情況下如何測量晶振是否起振。
可以用萬用表測量晶振兩個引腳電壓是否是芯片工作電壓的一半，比如工常電壓是5V則是否是2.5V左右。另外如果用鑷子碰晶體另外一個腳，這個電壓有明顯變化，證明是起振了的
