X-200 XRF 分析儀是高性能和極具吸引力的價格的完美結(jié)合。X-200 提供的速度和性能可媲美或優(yōu)于其他品牌的高端分析儀。 它使用性能 SDD，結(jié)合高度優(yōu)化的 X 射線管和探測器幾何結(jié)構(gòu)。 由于速度和分析性能與輕便、小尺寸設(shè)計相結(jié)合，X-200 正迅速成為廢料處理和無損檢測的。 它適用于包括鋁合金在內(nèi)的所有合金系列。 對于地球化學(xué)應(yīng)用，它提供了用于環(huán)境、探路者、勘探和采礦的元素套件。
金屬與合金
不銹鋼、高溫金屬和紅色金屬的基本分類。 僅按 MLC、2000 和 7000 對鋁合金進行分類。
地球化學(xué)與土壤
地球化學(xué)應(yīng)用程序可用于環(huán)境、探路、勘探和采礦的元素套件。
ROHS
快速、精確地分析 RoHS 元素 Pb、Hg、Cd、Br 和 Cr。還包括其他受限材料以及無鹵素材料。
重量
3.3 磅（含電池）
激發(fā)源
用于合金測試的 6-40kV、200uA Rh 陽極，用于大多數(shù)其他應(yīng)用的 6-50kV、200uA Au 陽極。
校準(zhǔn)
基本參數(shù)。 對于地球化學(xué)和環(huán)境。 土壤應(yīng)用程序，用戶也可以選擇“康普頓歸一化”方法和/或使用經(jīng)驗派生的校準(zhǔn)。
尺寸
7.25“x 10.5”x 4.5“
探測器
20mm2 硅漂移檢測器（有源區(qū)），135eV 分辨率 FWHM，5.95Mn K-alpha 線。
校準(zhǔn)檢查
內(nèi)部快門也是 316 不銹鋼，用于全自動校準(zhǔn)和能量標(biāo)度驗證。
電力
板載可充電鋰離子電池，可在設(shè)備內(nèi)部或使用外部充電器充電，交流電源，熱插拔能力（長 60 秒插拔時間）。
X 射線過濾
用于光束優(yōu)化的 6 位濾光輪。
環(huán)境溫度范圍
10% 占空比時 130°F 至 25°F
屏 顯：
5 英寸彩色觸摸屏智能手機型顯示屏 – PowerVR SGX540 3D 圖形。
處理電子主機處理器
ARM Cortex -A9 雙核/1.2GHz 內(nèi)存：1GB DDR2 RAM，1GB NAND 結(jié)果存儲：8GB SD
安全性
密碼保護使用（用戶級別）和內(nèi)部設(shè)置（管理員）。
通訊/數(shù)據(jù)傳輸
無線網(wǎng)絡(luò)、藍(lán)牙、USB。 連接到大多數(shù)設(shè)備，包括 SciAps Profile Builder PC 軟件。
脈沖處理器
數(shù)字化速率為 14 MSPS 的 80 位 ADC 8K 通道 MCA USB 2.0 用于高速數(shù)據(jù)傳輸至主機處理器 在 FPGA 中實現(xiàn)數(shù)字濾波以實現(xiàn)高吞吐量脈沖處理 50nS – 24uS 峰值時間
監(jiān)管
CE、RoHS、USFDA 注冊、加拿大 RED 法案。
