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產品總數(shù)：2614
高溫氣氛絕緣電阻率測試儀
簡介:高溫絕緣電阻率測試儀產品概述：本儀器是一臺通用高溫絕緣電阻率測試儀器，可以適用于不同試樣類型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測試。同時可以配套不同的試驗套裝，可以實現(xiàn)對不同高低溫、真空及氣氛環(huán)境下測試，滿足客戶多種測試需求，方便用戶進行后期的拓展和延伸。本...
￥15512
高溫片材絕緣電阻率測試儀
簡介:高溫絕緣電阻率測試儀產品概述：本儀器是一臺通用高溫絕緣電阻率測試儀器，可以適用于不同試樣類型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測試。同時可以配套不同的試驗套裝，可以實現(xiàn)對不同高低溫、真空及氣氛環(huán)境下測試，滿足客戶多種測試需求，方便用戶進行后期的拓展和延伸。本...
￥15513
高溫棒材絕緣電阻率測試儀
簡介:高溫絕緣電阻率測試儀產品概述：本儀器是一臺通用高溫絕緣電阻率測試儀器，可以適用于不同試樣類型（片材/棒材/塊體等）的絕緣材料電阻率測試。同時可以配套不同的試驗套裝，可以實現(xiàn)對不同高低溫、真空及氣氛環(huán)境下測試，滿足客戶多種測試需求，方便用戶進行后期的拓展和延伸。本...
￥15514
鋰離子電池隔膜電弱點測試儀
簡介:電弱點測試儀GCDRD-1500執(zhí)行標準：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部分試驗方法產品用途：該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數(shù)。本儀器方式為微機控制，卷膜移動速度可設定，按照設...
￥15611
PE/涂覆PE隔離膜電弱點測試儀
簡介:電弱點測試儀GCDRD-1500執(zhí)行標準：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部分試驗方法產品用途：該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數(shù)。本儀器方式為微機控制，卷膜移動速度可設定，按照設...
￥15617
電氣絕緣用薄膜電弱點測定儀
簡介:電弱點測試儀GCDRD-1500執(zhí)行標準：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部分試驗方法產品用途：該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數(shù)。本儀器方式為微機控制，卷膜移動速度可設定，按照設...
￥15613
電容器薄膜電弱點測定儀
簡介:電弱點測試儀GCDRD-1500執(zhí)行標準：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部分試驗方法產品用途：該儀器主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下自動升壓測定每平方米的擊穿點數(shù)。本儀器方式為微機控制，卷膜移動速度可設定，按照設...
￥15614
云母片電壓擊穿試驗儀
簡介:電壓擊穿試驗儀GCDDJ-100Kv一、適用范圍及功能主要適用于固體絕緣材料（如：塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件）在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷旱臏y試。二、系統(tǒng)組成：控制模組：本儀器由電腦上位機軟件控制，是我公司自主研...
￥18900
材料介電常數(shù)分析儀 GCSTD-AB
簡介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。滿足標準：GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質...
￥14700
介電常數(shù)介質損耗測定儀
簡介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。滿足標準：GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質...
￥14000
橡膠介電常數(shù)測試儀GCSTD-A/B
簡介:GCSTD-A/B高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀GCSTD-AB主要用途:主要用于測量非金屬材料的介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）應用對象:該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。滿足標準：GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質...
￥15000
電容法介電常數(shù)測試儀GCSTD-D
簡介:GCSTD-D高低頻介電常數(shù)測試儀滿足標準：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法ASTMD150／IEC60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電...
￥15500
介電常數(shù)矢量分析儀GCSTD-CII
簡介:GCSTD-CII工頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀滿足標準：GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法GB/T5654-2007液體絕緣材料相對電容率、介質損耗因數(shù)和直流電阻率的測量GB/T21216-2007絕緣液體測量電導和電容確定介質損耗因數(shù)的試驗方法GB/T1...
￥14800