在中國(guó)科學(xué)院武漢巖土力學(xué)研究所彎曲元項(xiàng)目招標(biāo)中，歐美大地獨(dú)家代理的英國(guó)GDS 彎曲元件試驗(yàn)系統(tǒng)BES 以出色的性?xún)r(jià)比一舉中標(biāo)!

　　GDS彎曲元件測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):

　　數(shù)據(jù)采集分辨率 (bits) = 16 bit (采用200ks/s 卡) 或 12 bit (采用1Ms/s 卡)

　　數(shù)據(jù)采集可以采用的增益范圍= 16 (from x10 to x 4000)

　　為了減少重量采用鈦插入物 (這點(diǎn)對(duì)試樣帽來(lái)說(shuō)非常重要)

　　GDS彎曲元件可以非常容易地在三軸壓力室中測(cè)量土在小應(yīng)變時(shí)的最大剪切模量。由于荷載和位移測(cè)量裝置的分辨率和精度不夠，因此，在室內(nèi)非常小的應(yīng)變條件下測(cè)量土的剛度是非常困難的。以前在三軸試驗(yàn)中測(cè)量小應(yīng)變剛度通常采用局部應(yīng)變傳感器，但是這種傳感器的價(jià)格很昂貴，通常用于科學(xué)研究。

　　GDS 彎曲晶片使得在三軸壓力室中小應(yīng)變情況下測(cè)量土的最大剪切模量變得更加容易。該系統(tǒng)采用一對(duì)彎曲晶片，一個(gè)發(fā)射，另一個(gè)接收，在土中傳輸S波和P波。

　　有兩種型號(hào)不同的彎曲晶片可以采用：

　　P 和 S 波組合

　　只施加P 波

　　GDS 彎曲晶片被包裝固定在試樣帽或底座的“插入物”中。試樣帽的插入物由鈦制成，可以提供很高的軸向硬度，與用不銹鋼制成的底座插入物相比，重量輕了一半。這可以將對(duì)軸向載荷的影響降到最小。