【浙江師范大學(xué)】專用IC檢測(cè)儀
功能/作用介紹：
專用IC檢測(cè)儀是針對(duì)目前實(shí)驗(yàn)室中的檢測(cè)儀器中的缺點(diǎn)和不足，面向設(shè)計(jì)性實(shí)驗(yàn)中的專用IC芯片的檢測(cè)而開(kāi)發(fā)的。目前實(shí)驗(yàn)室的芯片檢測(cè)儀大多僅可以檢測(cè)TTL74/54系列、CMOS40/45系列的數(shù)字集成芯片，無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)其他集成度更高的專用IC如單片機(jī)、LCD液晶顯示器、A/D和D/A芯片、專用傳感器等的檢測(cè)。本專用IC檢測(cè)儀可以實(shí)現(xiàn)對(duì)上述專用芯片進(jìn)行快速可靠的檢測(cè)，使實(shí)驗(yàn)以及芯片回收得以順利的開(kāi)展。
專用IC檢測(cè)儀主要可以實(shí)現(xiàn)以下功能：
1.常用單片機(jī)的檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)對(duì)常用的AT89C51，AT89C52，AT89C2051單片機(jī)的檢測(cè)。
2.常用LCD液晶顯示器的檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)對(duì)LCD1602，12864B、SO12864-27A、MZLH-04/08、Nokia5110常用液晶顯示器的檢測(cè)。
3.常用數(shù)碼管檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)對(duì)0.5寸共陽(yáng)、共陰數(shù)碼管，0.36寸和0.5寸四連體共陽(yáng)、共陰數(shù)碼管的檢測(cè)。
4.常用A/D、D/A芯片的檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)對(duì)常用A/D芯片包括ADC0804，ADC0809和常用D/A芯片 DAC0832芯片的檢測(cè)。
5.常用運(yùn)算放大器系列的檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)對(duì)常用運(yùn)放LM741,LM358,LM324,LM747,TL082,TL084,OP07的檢測(cè)。
6.其他常用數(shù)字芯片的檢測(cè)
實(shí)現(xiàn)了對(duì)溫度傳感器18B20，串行存儲(chǔ)芯片24C0×的檢測(cè)。
作品名稱：專用IC檢測(cè)儀
完成單位：浙江師范大學(xué)數(shù)理與信息工程學(xué)院電工電子實(shí)驗(yàn)教學(xué)中心
