梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平，分析天平，精密天平，以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態(tài)指示燈技術(shù)，新型XPE天平可以保證測量結(jié)果的穩(wěn)定性和合規(guī)性，幫助客戶輕松實現(xiàn)無憂測量。
如何處理靜電是分析天平和微量天平所要面對的一大挑戰(zhàn)，而新型XPE天平的靜電消除技術(shù)使得這一問題將不復存在。XPE微量分析天平和分析天平使用創(chuàng)新的靜電消除技術(shù)，能夠通過分析稱量信號判斷并消除由于靜電導致的稱量誤差。
此外，革新性的智能秤盤可以使得精密天平在不使用防風罩的情況下，實現(xiàn)最高達5mg的測量精度。即便是在通風櫥中，其測量結(jié)果的速度也比之前加快了一倍。
XPE天平自帶的TestManager軟件將使得常規(guī)測量管理變得輕松無比。使用該軟件可以便捷地幫助客戶實現(xiàn)特定測量，且用戶在測試即將開始時也會接收到軟件的提醒通知。如果實驗尚未完成，用戶還可以選擇將天平自動鎖定來確保實驗的高度過程安全性。
新型XPE天平采用了全新觸摸屏顯示終端;其統(tǒng)一的設計使得用戶使用完XPE天平后也能輕松掌握其他天平甚至其他任何梅特勒-托利多的儀器。此外，新型XPE天平前端自帶的狀態(tài)指示燈能以不同的顏色直觀顯示天平的就緒狀態(tài)。而與天平配套的梅特勒-托利多LabX實驗室軟件也更新支持靜電消除，狀態(tài)指示燈甚至是新的RFID功能。
新型XPE天平能夠幫助客戶滿足當前甚至是未來數(shù)年內(nèi)的稱量需求，從而保障了客戶的長期投資收益。
