硬盤存儲(chǔ)數(shù)據(jù)通過(guò)磁頭讀寫實(shí)現(xiàn)，但由于時(shí)間損耗和其他不可控外因的影響，硬盤磁頭易被損傷,盤片也可能劃傷,導(dǎo)致嚴(yán)重的硬盤物理故障。
硬盤物理故障主要包括異響、敲盤、無(wú)法尋道、停轉(zhuǎn)、再次通電無(wú)法起轉(zhuǎn)等，遇到以上情況，通?？刹捎酶鼡Q匹配磁頭的方法處理。但在實(shí)際操作中，會(huì)經(jīng)常遇到更換磁頭后仍然無(wú)法修復(fù)硬盤的問(wèn)題，原因可能是磁頭不匹配或磁頭匹配但某個(gè)盤片有劃傷，導(dǎo)致硬盤無(wú)法正常工作。更甚者，更換新的磁頭后，在讀取損壞的盤片時(shí)，直接導(dǎo)致新?lián)Q的磁頭再次損壞。
基于該類問(wèn)題，效率源科技研究出一種屏蔽損壞磁頭以讀取硬盤數(shù)據(jù)信息的全新技術(shù)，該技術(shù)主要用于硬盤個(gè)別磁頭損壞或某個(gè)盤片劃傷的數(shù)據(jù)提取，主要原理為屏蔽損壞磁頭或損壞盤片端的磁頭，通過(guò)其他正常磁頭獲取數(shù)據(jù)，達(dá)到數(shù)據(jù)恢復(fù)的效果。
那么，如何具體通過(guò)屏蔽損壞磁頭來(lái)讀取硬盤中的數(shù)據(jù)信息呢?
效率源研發(fā)工程師介紹：該技術(shù)主要通過(guò)Boot Code方式獲取硬盤電路板中的ROM信息并解析出SAP數(shù)據(jù)體結(jié)構(gòu);然后找到SAP數(shù)據(jù)體中的磁頭位圖信息并將其修改以關(guān)閉損壞的磁頭;然后校驗(yàn)修改SAP數(shù)據(jù)體，生成新的SAP數(shù)據(jù)體，并將校驗(yàn)完成的SAP數(shù)據(jù)體回填至ROM中;最后通過(guò)Boot Code方式將修改的ROM回寫到硬盤的電路板中，重新上電后，使用分頭鏡像技術(shù)恢復(fù)提取數(shù)據(jù)。
該項(xiàng)技術(shù)與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于：
1、使用屏蔽磁頭的方式禁止損壞磁頭工作，防止再次損壞盤片;
2、不需要更換和匹配磁頭，節(jié)約時(shí)間和成本;
3、可以處理盤片有大量劃傷的硬盤;
4、在不更換磁頭的情況下，能夠盡可能的提取其他好的盤面的數(shù)據(jù)。
盡管該項(xiàng)技術(shù)能夠解決嚴(yán)重的磁頭損壞、盤片劃傷問(wèn)題，但仍然存在一定的不足，無(wú)法100%恢復(fù)數(shù)據(jù)。當(dāng)然，這種情況是無(wú)法避免的，因?yàn)榇蓬^損壞或盤片劃傷后，在更換磁頭也無(wú)法恢復(fù)數(shù)據(jù)時(shí)，只能通過(guò)屏蔽磁頭來(lái)獲取正常磁頭下的數(shù)據(jù)，而被屏蔽磁頭下的數(shù)據(jù)就無(wú)法獲取。比如2個(gè)磁頭的硬盤，一個(gè)磁頭損壞屏蔽后，便只能獲取50%的數(shù)據(jù);4個(gè)磁頭的硬盤，一個(gè)磁頭損壞屏蔽后，可獲取75%的數(shù)據(jù)，以此類推。
然而，綜合該項(xiàng)技術(shù)的優(yōu)缺點(diǎn)來(lái)說(shuō)，其優(yōu)勢(shì)價(jià)值遠(yuǎn)大于弊端。一般來(lái)說(shuō)，硬盤盤片劃傷或磁頭損壞更換后仍無(wú)法進(jìn)行數(shù)據(jù)恢復(fù)時(shí)，通過(guò)屏蔽損壞磁頭來(lái)盡可能提取硬盤數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)恢復(fù)的最后保障。如果無(wú)法屏蔽，則可能無(wú)法獲取任何數(shù)據(jù)，直接導(dǎo)致硬盤數(shù)據(jù)完全丟失。
效率源近期將使用該項(xiàng)技術(shù)，推出具有屏蔽硬盤損壞磁頭實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)提取功能的免費(fèi)跨平臺(tái)軟件，敬請(qǐng)關(guān)注!
