巖石為了要在偏光顯微鏡下觀察，首先必須夠「薄」，薄到光線可以穿透標(biāo)本，一般的標(biāo)準(zhǔn)薄片厚度為 30 μm，相當(dāng)于0.003公分。由于光線透過礦物時的速度因種類的不同而異，因此，我們可以利用礦物本身的光學(xué)特性，作為礦物鑒定的一項重要依據(jù)。實驗室制作薄片除了靠靈巧的雙手外，還需要依賴精密的儀器作輔助，才能達(dá)到既快又好的效果。

　　以下就介紹實驗室制作薄片的幾個步驟：

　　1. 切割：將野外所采集的巖石標(biāo)本，先選取新鮮未風(fēng)化部分，再用鉆石鋸片切成符合玻片的適當(dāng)大小。由于鉆石是目前硬度最高的物質(zhì)，為了切出各種硬度不同的巖樣標(biāo)本，實驗室中鋸片和研磨用磨盤均鍍上鉆石。

　 2. 磨平：把切好的巖樣標(biāo)本與要膠著的玻片，分別以#600～#1000的碳化硅粉末研磨，使巖樣切面成為光滑之平面。檢查切面是否平整光滑，可將巖樣面向光源，觀察其反射是否良好來判斷。

　 3. 上膠：將處理完成的巖樣以環(huán)氧基樹脂粘著于毛玻璃上，注意上膠前需將接觸面以酒精清潔，且在上膠時巖樣與玻璃之間不能有氣泡產(chǎn)生，以免影響切片時的粘著強(qiáng)度。上膠后置于固定平臺上，并以50℃低溫烘烤約6～8 小時，以便固結(jié)、硬化。

　 4. 切片：待膠硬化后將標(biāo)本置于薄片切割機(jī)上切割并磨成100～150μm 的厚度，因為切割機(jī)轉(zhuǎn)速過快，所以無法切磨成太薄的標(biāo)本。

　 5. 研磨：以測微器定出標(biāo)本厚度，再把100～150μm厚之巖樣標(biāo)本利用真空原理固定在真空吸盤上，然后直接在薄片研磨盤上研磨至標(biāo)準(zhǔn)厚度30μm 。

　 6. 拋光：標(biāo)本若要做微探成分分析，則需將薄片分別用0.3～0.05μm的鋁粉拋光液進(jìn)行拋光。