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新款覆層測(cè)厚儀測(cè)量原理

教育裝備采購(gòu)網(wǎng) 2019-06-04 09:52 圍觀629次

  ?覆層測(cè)厚儀是新研發(fā)的新產(chǎn)品,與之前涂層測(cè)厚儀相比有以下主要優(yōu)點(diǎn):

  測(cè)量速度快:測(cè)量速度比其它TT系列快6倍。

  能、數(shù)據(jù)、操作、顯示是中文。

  對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)家和際標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。覆層厚度測(cè)量已成為業(yè)、表面程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的備手段。為使產(chǎn)品際化,我出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

  覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗(yàn)。

  X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,測(cè)量范圍較小。因有放射源,使用者須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

   測(cè)量原理

  、磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀

  久磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可行測(cè)量。鑒于大多數(shù)業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。

  這種儀器的點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。

  二、 磁感應(yīng)測(cè)量原理

  采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦滦g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。,引入微機(jī),使測(cè)量度和重現(xiàn)性有了大幅度的提(幾乎達(dá)個(gè)數(shù)量)。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)磁感應(yīng)測(cè)厚儀_電渦流測(cè)量原理_磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀_電渦流原理的測(cè)厚儀到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。

  磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化石油待業(yè)的各種防腐涂層。

  三、電渦流測(cè)量原理

  頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的水平。

  采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)氧化膜。覆層材料有定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

點(diǎn)擊進(jìn)入北京恒奧德儀器儀表有限公司展臺(tái)查看更多 來(lái)源:教育裝備采購(gòu)網(wǎng) 作者:北京恒奧德儀器儀表有限公司 責(zé)任編輯:方劍波 我要投稿
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