摘要：本發(fā)明涉及光學相干層析成像方法及其裝置，屬于光學測量、醫(yī)療檢測儀器技術領域。包括：將測量光束產生一個反射光和一個透射光，該透射光照射到被測物體的一點；被測物體的反射光由原光路返回后，和所述反射光一起合成一束光傳輸，再被分為兩束光，其中第一束光從原路返回，第二束光被延遲一設定的光程再反射后從原路返回；返回的兩束反射光交匯產生干涉后進入光探測器產生對應的電信號；上下左右移動照射在被測樣品上的光束，對被測物體進行掃描；每移動到一個點，該可調光延遲元件做一次延遲操作，重復操作，使測量光的干涉相位對應樣品的不同截面；將干涉光電信號進行處理，并將處理結果上傳到計算機進行圖像分析和顯示。本發(fā)明具有移動方便、體積小、數據易處理等優(yōu)點。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人北京高光科技有限公司;通用光訊光電技術(北京)有限公司;
- 發(fā)明人姚曉天;
- 地址100089北京市海淀區(qū)長春橋路11號億城大廈C1座303
- 申請?zhí)?/b>CN200710303722.4
- 申請時間2007年12月21日
- 申請公布號CN101199413A
- 申請公布時間2008年06月18日
- 分類號A61B5/00(2006.01);G01N21/45(2006.01);
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