摘要：本發(fā)明公開了一種用于珠寶或?qū)毷瘷z測的反射測量光譜取樣方法，包括以下步驟：A、將入射光投射到樣品上；B、樣品對入射光反射；C、樣品上反射回來的光線通過鏡面或漫反射分布于積分球內(nèi)部；D、將步驟C中經(jīng)過積分球后的反射光從底部或側(cè)面采集。本發(fā)明用于珠寶或?qū)毷瘷z測的反射測量光譜取樣方法由于在入射光反射過程中通過積分球直射或漫反射，再進行采樣，有效獲得用戶所選的波長范圍的“全光”信息，解決了隨形樣品測量過程中出現(xiàn)的不確定性問題，省去了單色掃描、機械分光等繁瑣的操作步驟，極大地提高了珠寶或?qū)毷瘷z測分析測試的效率。本發(fā)明作為一種用于珠寶或?qū)毷瘷z測的反射測量光譜取樣方法廣泛應用于珠寶鑒定行業(yè)中。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;鄭祥利;吳劍鋒;蹇華麗;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號1711房
- 申請?zhí)?/b>CN201010189681.2
- 申請時間2010年05月26日
- 申請公布號CN101858858A
- 申請公布時間2010年10月13日
- 分類號G01N21/31(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;
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