摘要：本實(shí)用新型公開(kāi)了405激光誘導(dǎo)熒光檢測(cè)探頭以及系統(tǒng)。所述探頭包括凸透鏡、二色鏡、第一聚光鏡、平面鏡以及第二聚光鏡，405激光通過(guò)凸透鏡以平行光束依次經(jīng)過(guò)二色鏡過(guò)濾和第一聚光鏡聚焦投射在被測(cè)物上，被測(cè)物上產(chǎn)生的熒光通過(guò)第一聚光鏡以平行光束依次經(jīng)過(guò)二色鏡過(guò)濾、平面鏡反射以及第二聚光鏡聚焦投射到檢測(cè)器。所述系統(tǒng)包括激光源，所述激光源的輸出端依次連接有探頭、光譜儀以及計(jì)算機(jī)。通過(guò)激光誘導(dǎo)熒光對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)所需的時(shí)間少以及檢測(cè)的靈敏度高，另外，檢測(cè)結(jié)果精確度高，而且無(wú)需損耗樣品。本實(shí)用新型作為405激光誘導(dǎo)熒光檢測(cè)探頭以及系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于檢測(cè)行業(yè)中。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人廣州標(biāo)旗電子科技有限公司;
- 發(fā)明人宋光均;吳劍峰;鄭祥利;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區(qū)金穎路1號(hào)金穎大廈1711室
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201120508417.0
- 申請(qǐng)時(shí)間2011年12月08日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN202383072U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2012年08月15日
- 分類號(hào)G01N21/64(2006.01)I;
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