摘要：本發(fā)明提供一種集成式光纖環(huán)圈測(cè)試系統(tǒng)，包括底座、骨架、外罩，所述骨架設(shè)于所述底座上，所述外罩罩于所述底座與骨架之上，所述底座、骨架、外罩圍成的空間形成密閉的上下分體層疊的電路腔和光路腔，所述電路腔內(nèi)設(shè)調(diào)制解調(diào)電路，所述光路腔內(nèi)設(shè)光路。采用上述集成式的光纖環(huán)圈測(cè)試系統(tǒng)，極大地減小了外界溫度、電磁等對(duì)檢測(cè)的干擾，從而有效地提高了檢測(cè)的穩(wěn)定性以及精度。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請(qǐng)人天津光拓科技有限公司;
- 發(fā)明人楊冬霞;李偉俊;王嘉寧;
- 地址300392 天津市濱海新區(qū)華苑產(chǎn)業(yè)園區(qū)（環(huán)外）海泰發(fā)展五道16號(hào)B-4號(hào)樓2-1023室（高新區(qū)）
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201210575005.8
- 申請(qǐng)時(shí)間2012年12月21日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN103063408B
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2015年05月27日
- 分類號(hào)G01M11/00(2006.01)I;
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