摘要：本發(fā)明屬于光學(xué)檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種快速二次元光學(xué)測量裝置，包括測量框架，測量框架的底部設(shè)有光源，待測樣品位于光源上方，與光源相應(yīng)的測量框架的上部設(shè)有多個用于采集待測樣品圖像的取像元件，多個取像元件可以同時對待測樣品上相互垂直的兩尺寸方向采集圖像，取像元件連接圖像處理元件，測量框架上還設(shè)有可對取像元件位置進行調(diào)節(jié)的取像元件調(diào)節(jié)機構(gòu)，因而本發(fā)明測量裝置可以根據(jù)待測樣品的尺寸大小情況，將測量框架上部的取像元件調(diào)節(jié)到合適位置后，多個取像元件便可以同時對待測樣品上相互垂直的兩尺寸方向采集圖像，然后由圖像處理元件根據(jù)接收到的圖像執(zhí)行二次元的計算，提高了測量精度和測量效率，具有廣闊的市場前景。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司;
- 發(fā)明人唐翔;黃海瑞;陶金明;汪旭東;閆飛;彭衛(wèi)軍;楊曉寧;秦學(xué)琴;趙偉;
- 地址215334 江蘇省蘇州市昆山市開發(fā)區(qū)章基路189號1棟201
- 申請?zhí)?/b>CN201610110174.2
- 申請時間2016年02月29日
- 申請公布號CN105547156A
- 申請公布時間2016年05月04日
- 分類號G01B11/00(2006.01)I;
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