摘要：本發(fā)明公開了一種基于FPGA的NAND?Flash容錯方法，包括Flash壞塊檢測、壞塊管理和動態(tài)查表。通過Flash寫標志位的狀態(tài)和讀寫內(nèi)容是否相同來檢測壞塊。利用壞塊管理算法對檢測到的好、壞塊地址進行管理，并建立地址映射表。FPGA通過動態(tài)查表的方式對Flash進行寫入、讀取和擦除操作，大大提高了數(shù)據(jù)存取的準確性和高效性。本方法能直接提高Flash空間利用率，使其整體性能和處理速度得到重要的保障，對新一代大容量NAND?Flash的應用發(fā)展具有參考意義。
- 專利類型發(fā)明專利
- 申請人浙江大學;
- 發(fā)明人張曉峰;史治國;陳積明;
- 地址310027 浙江省杭州市西湖區(qū)浙大路38號
- 申請?zhí)?/b>CN201610173425.1
- 申請時間2016年03月24日
- 申請公布號CN105843749A
- 申請公布時間2016年08月10日
- 分類號G06F12/02(2006.01)I;G06F12/06(2006.01)I;
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