摘要：本實(shí)用新型涉及一種顯微光譜的檢測(cè)裝置，包括一個(gè)顯微鏡，一根用于接收顯微光譜信號(hào)的光纖和一個(gè)用于檢測(cè)光譜的光譜儀，其中，所述的光纖的一端固定于顯微鏡的圖像平面上，另一端連接到光譜儀上，用于將圖像平面收集的光譜信號(hào)傳輸進(jìn)光譜儀中，進(jìn)行光譜檢測(cè)，得到待測(cè)樣品的顯微光譜。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可用于納米材料科學(xué)等領(lǐng)域的顯微光譜檢測(cè)。
- 專利類型實(shí)用新型
- 申請(qǐng)人上海復(fù)享儀器設(shè)備有限公司;
- 發(fā)明人許春;殷海瑋;章煒毅;
- 地址200433 上海市楊浦區(qū)國(guó)定東路200號(hào)3號(hào)樓302-1
- 申請(qǐng)?zhí)?/b>CN201320163965.3
- 申請(qǐng)時(shí)間2013年04月03日
- 申請(qǐng)公布號(hào)CN203132984U
- 申請(qǐng)公布時(shí)間2013年08月14日
- 分類號(hào)G01N21/25(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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